服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
认证培训
认证服务
培训服务
审厂服务
集成电路设计、整合验证分析服务
AS6081航空航天假冒电子元器件管理体系认证
ISO9001质量管理体系认证
ISO14001环境管理体系认证
ISO45001职业健康安全管理体系认证
ESD 静电管理体系认证
AS9120B 航空电子元件分销管理体系认证
ISO13485医疗器械 管理体系认证
IATF16949 汽车管理体系认证
QC080000 有害物质管理体系认证
管理体系标准培训
AS6081标准培训
ISO 9001标准培训
ISO 14001标准培训
ISO 45001标准培训
ESD S20.20标准培训
AS9120标准培训
ISO 13485标准培训
IATF 16949标准培训
QC 080000标准培训
专业技能培训
AS6081认证检验员
QC组建流程及要求
检测认证流程详解
实验室体系认证流程及标准
芯片行业背景介绍
全球电子产品供应链以及假冒产品如何进入供应链
IC基础知识
电子元器件可靠性验证必要性
电子元器件防伪检测技术前沿与实践
IC检测方法及检测标准
塑封元器件检测
BGA钢面芯片判定
模块等其他特殊封装检测
元器件失效分析介绍
终端客户售后问题解决方案
EMS制造工厂元器件来料质量管理体系完善
指导工程部门对来料管理制度的建立及运行
质检人员集成电路测试理论与方法的培训
集成电路设计、整合验证分析服务
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
失效分析相关资讯
PCB焊点失效分析的主要因素包括哪些?
PCB焊点失效分析的主要因素包括哪些?

在实际加工过程中也会遇到PCBA焊点失效的问题,焊点的失效一方面来源于生产装配中的焊接故障,如钎料桥连、虚焊、曼哈顿现象等;另一方面是在服役条件下,当环境温度变化时,由于元器件与基板材料存在的热膨胀系数差,在焊点内产生热应力,应力的周期性变化会造成焊点的疲劳损伤,同时相对于服役环境的温度,SnPb钎料的熔点较低,随着时间的延续,产生明显的粘性行为,导致焊点的变损伤。有必要分析并找出原因,以避免再次发生焊点故障。那么今天,就来给大家介绍一下PCB焊点失效分析的主要因素吧。

2022-12-13 16:39:06
查看详情
MOSFET管失效的常见的六个原因分析
MOSFET管失效的常见的六个原因分析

MOS管是金属(metal)—氧化物(oxide)—半导体(semiconductor)场效应晶体管,或者称是金属—绝缘体(insulator)—半导体。MOS管的source和drain是可以对调的,他们都是在P型backgate中形成的N型区。要正确测试判断MOSFET是否失效,重要关键是要找到失效背后的原因,并避免再犯同样的错误,本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-12-09 14:40:55
查看详情
涂层/镀层失效分析检测基本流程
涂层/镀层失效分析检测基本流程

伴随着生产制造和科技的发展趋势,涂/涂层原材料逐渐出現在我们的视线而且快速发展并遍及于人们日常生活。总体来说,将来对涂/涂层原材料技术性总的发展趋向是性能卓越化、高功能性、智能化系统和环保化等。根据失效分析一系列剖析认证方式,能够搜索其无效的直接原因及原理,其在提升产品品质、加工工艺改善及义务诉讼等领域有着关键实际意义。

2022-12-06 16:08:42
查看详情
机械零件失效分析 主要的失效形式有哪些?
机械零件失效分析 主要的失效形式有哪些?

机械零件由于某些原因丧失工作能力或达不到设计要求的性能时,称为失效。失效分析的结果,既可对零件的失效形式加以预测,又是零件选材的依据,同时又可以对合理制订零件的制造工艺、优化零件的结构设计,以及新材料的研制和新工艺的开发等提供有指导意义的数据。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-11-17 16:00:08
查看详情
元器件的失效原因有哪些?失效分析一般程序
元器件的失效原因有哪些?失效分析一般程序

一般来说,芯片在研发、生产过程中出现错误是不可避免的。失效分析是判断产品的失效模式,查找产品失效机理和原因,提出预防再失效对策的技术活动和管理活动。随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,社会的发展就是一个发现问题解决问题的过程,出现问题不可怕,但频繁出现同一类问题是非常可怕的。

2022-11-15 16:25:47
查看详情
电子可靠性试验 导致电子产品失效的主要环境应力
电子可靠性试验 导致电子产品失效的主要环境应力

环境应力筛选的目的是通过向产品施加合理的环境应力,将其内部的潜在缺陷加速变成故障,并加以发现和排除的过程,其目的是剔除产品的早期故障。电子产品的工作过程中,除了电载荷的电压、电流等电应力外,环境应力还包括高温和温循、机械振动和冲击、潮湿和盐雾、电磁场干扰等。在上述环境应力的作用下,产品可能出现性能退化、参数漂移、材料腐蚀等,甚至失效。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-10-21 15:00:00
查看详情
元器件破坏性失效分析 电子失效分析方法
元器件破坏性失效分析 电子失效分析方法

失效是指电子元器件出现的故障。破坏性物理分析(Destructive Physical Analysis)是为了验证元器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途或有关规范的要求,按元器件的生产批次进行抽样,对元器件样品进行非破坏性分析和破坏性分析的一系列检验和分析的全过程。

2022-10-09 16:50:08
查看详情
Image
六个步骤层层排查,探明这枚SN6505BDBVT上机短路的真相

集成电路上机失效,原因复杂多样,常见原因有:制造工艺缺陷、环境因素、SMT工序、产品的设计缺陷、EMC电磁兼容设计、过压过流、静电(ESD)损坏等。

2022-09-01 16:01:00
查看详情
元器件检测 电子器件失效分析
元器件检测 电子器件失效分析

随着人们对电子产品质量可靠性的要求不断增加,电子元器件的可靠性不断引起人们的关注,如何提高可靠性成为电子元器件制造的热点问题。为帮助大家深入了解,本文将对电子器件失效分析的相关知识予以汇总。如果您对本文即将要涉及的内容感兴趣的话,那就继续往下阅读吧。

2022-08-25 15:51:14
查看详情
一文搞懂LED芯片失效和封装失效的原因分析
一文搞懂LED芯片失效和封装失效的原因分析

LED芯片核心构架是半导体晶片,由P型半导体和N型半导体,P型半导体在晶片空穴占主导地位,当P型半导体和N型半导体连接起来时,将形成一个P-N结。当电流通过导线作用在半导体晶片时,电子将被推向P区,在P区里电子和空穴符合,以光子形式发出能量,这也是LED芯片发光的工作原理,光的波长也是光的颜色,将由P-N结的材料所决定的。LED芯片主要材料为单晶硅,作为LED光源最核心的部件,其质量决定着产品的性能及可靠性。任何不当使用都可能会损伤芯片,使得芯片在使用过程中出现失效。对于应用工程师,芯片失效分析

2022-08-08 16:39:00
查看详情
1 2 3 4 5 … 12 13
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 百格测试(cross-cut test)-可靠性测试
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2026

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2026

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定