
数字集成电路
延迟测量:MIL-STD-883K-20173003.1
转换时间测量:MIL-STD-883K-20173004.1
电源电流:MIL-STD-883K-20173005.1
输出高电平电压:MIL-STD-883K-20173006.1
输出低电平电压:MIL-STD-883K-20173007.1
输入低电平电流:MIL-STD-883K-20173009.1
输入高电平电流:MIL-STD-883K-20173010.1
二极管
正向电压:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997/方法4011
反向电流:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997/方法4016
半导体光电耦合器
正向压降:《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.1
反向漏电流:《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.3
反向击穿电压:《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.4
输出高电平电压:《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.14
输出低电平电压:《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.15
电流传输比:《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.9
电阻器
直流电阻:电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法303
电容器
电容量:电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法305
电感器
电感量:电子设备用固定电感器_第2部分_分规范表面安装电感器SJ/T11287-2003
电位器
电阻值:精密线绕电位器总规范GJB1523-1992
半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路电压调整器测试方法GB/T4377-2018
电磁继电器
线圈直流电阻:电磁继电器通用规范GJB1042A-20024.6.8.1
吸合电压:电磁继电器通用规范GJB1042A-20024.6.8.3.1
释放电压:电磁继电器通用规范GJB1042A-20024.6.8.3.4
半导体三极管
半导体分立器件和集成电路第七部分:双极型晶体管GB/T4587-1994
场效应晶体管
半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T4586-1994
