数字集成电路

 

    延迟测量：MIL-STD-883K-20173003.1

 

    转换时间测量：MIL-STD-883K-20173004.1

 

    电源电流：MIL-STD-883K-20173005.1

 

    输出高电平电压：MIL-STD-883K-20173006.1

 

    输出低电平电压：MIL-STD-883K-20173007.1

 

    输入低电平电流：MIL-STD-883K-20173009.1

 

    输入高电平电流：MIL-STD-883K-20173010.1

 

    二极管

 

    正向电压：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997/方法4011

 

    反向电流：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997/方法4016

 

    半导体光电耦合器

 

    正向压降：《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.1

 

    反向漏电流：《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.3

 

    反向击穿电压：《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.4

 

    输出高电平电压：《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.14

 

    输出低电平电压：《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.15

 

    电流传输比：《半导体光电耦合器测试方法》SJ/T2215-2015/5.9

 

    电阻器

 

    直流电阻：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法303

 

    电容器

 

    电容量：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法305

 

    电感器

 

    电感量：电子设备用固定电感器_第2部分_分规范表面安装电感器SJ/T11287-2003

 

    电位器

 

    电阻值：精密线绕电位器总规范GJB1523-1992

 

    半导体集成电路电压调整器

 

    半导体集成电路电压调整器测试方法GB/T4377-2018

 

    电磁继电器

 

    线圈直流电阻：电磁继电器通用规范GJB1042A－20024.6.8.1

 

    吸合电压：电磁继电器通用规范GJB1042A－20024.6.8.3.1

 

    释放电压：电磁继电器通用规范GJB1042A－20024.6.8.3.4

 

    半导体三极管

 

    半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

 

    场效应晶体管

 

    半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T4586-1994