
描述:超声波显微镜,英文名Scanning Acoustic Tomography,简称SAT。超声波显微镜分析是无损的检测方式,广泛的应用在物料检测(IQC)、失效分析(FA)、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷(裂纹、分层、空洞等);通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位等。
超声波扫描显微镜,其特性如下:
1:非破坏性、无损检测样品内部封装状况;
2:检测时对样品无特殊要求,样品表面平整即可检测;
3:直观的图像及分析;
4:对样品及人体无害;
创芯检测中心已配置低频15MHz、30MHz、40MHz、75MHz、到高频100MHz、230MHz等全系探头,可满足DIP , PLCC , TO, QFP, BGA , SOP , SOT ,QFN , TQFP, DFN, Flip Chip, WLCSP等不同封装的集成电路及PCB检测。
案例分享
SOT封装检测案例
正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像
正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像
透射模式扫描图像
SOP8封装检测案例
正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像
正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像
透射模式扫描图像
QFP封装检测案例
正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像
正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像
透射模式扫描图像
TO封装检测案例
正面引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像
正面基板与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像
透射模式扫描图像