描述：超声波显微镜，英文名Scanning Acoustic Tomography，简称SAT。超声波显微镜分析是无损的检测方式，广泛的应用在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位等。

超声波扫描显微镜，其特性如下：

1：非破坏性、无损检测样品内部封装状况；

2：检测时对样品无特殊要求，样品表面平整即可检测；

3：直观的图像及分析；

4：对样品及人体无害；

创芯检测中心已配置低频15MHz、30MHz、40MHz、75MHz、到高频100MHz、230MHz等全系探头，可满足DIP , PLCC , TO, QFP, BGA , SOP , SOT ,QFN , TQFP, DFN, Flip Chip, WLCSP等不同封装的集成电路及PCB检测。

案例分享

SOT封装检测案例

 正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

 正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

透射模式扫描图像

SOP8封装检测案例

正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

透射模式扫描图像

QFP封装检测案例

正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

 正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 透射模式扫描图像

TO封装检测案例

正面引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 正面基板与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 透射模式扫描图像