会员登录 | 一账通登录 | 免费注册

全国热线

4008-655-800
超声波扫描 (SAT检测)

描述:超声波显微镜,英文名Scanning Acoustic Tomography,简称SAT。超声波显微镜分析是无损的检测方式,广泛的应用在物料检测(IQC)、失效分析(FA)、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷(裂纹、分层、空洞等);通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位等。

超声波扫描显微镜,其特性如下:

1:非破坏性、无损检测样品内部封装状况;

2:检测时对样品无特殊要求,样品表面平整即可检测;

3:直观的图像及分析;

4:对样品及人体无害;

创芯检测中心已配置低频15MHz、30MHz、40MHz、75MHz、到高频100MHz、230MHz等全系探头,可满足DIP , PLCC , TO, QFP, BGA , SOP , SOT ,QFN , TQFP, DFN, Flip Chip, WLCSP等不同封装的集成电路及PCB检测。

超声波扫描 (SAT检测)

案例分享

SOT封装检测案例

正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

 正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 透射模式扫描图像

透射模式扫描图像

SOP8封装检测案例

正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

透射模式扫描图像

透射模式扫描图像

QFP封装检测案例

 正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

正面芯片与塑封结合面-反射模式扫描图像

正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 正面基板、引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 透射模式扫描图像

 透射模式扫描图像

TO封装检测案例

正面引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

正面引脚与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 正面基板与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 正面基板与塑封结合面的缺陷自动着色-反射模式扫描图像

 透射模式扫描图像

 透射模式扫描图像

相关资讯