服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
X-Ray检测相关资讯
x-ray设备对IC芯片进行检测 还有哪些应用?
x-ray设备对IC芯片进行检测 还有哪些应用?

近年来,科学技术的进步使生产中使用的x-ray检测设备更加严格。曲轴,气缸,发动机叶片等工业零件也使用铸件,铸件的生产非常容易产生气泡等问题,这是传统技术无法解决的。但是x-ray检测设备无损检测技术在对各种铸件检测得到非常准确的结果,应用范围广泛,且技术成熟。

2022-01-20 17:48:00
查看详情
ic芯片在线X-RAY检测 无损检测应用介绍
ic芯片在线X-RAY检测 无损技术应用介绍

现代发展中X射线成像技术已经形成了一套比较完整的X光无损检测技术体系,“无损”顾名思义,检测过程不会损坏试件,其最大特点就是能在不损坏试件材质、结构的前提下进行检测,因此采用无损检测可实施产品百分百全检,确保生产质量。利用Xray在线检测技术来实现这一点,既能实现BGA等不可见焊点的检测,又能对检测结果进行定性、定量分析,从而早期发现故障。

2022-01-13 16:03:39
查看详情
xray电路板检测有效解决虚焊问题
xray电路板检测有效解决虚焊问题

电路板虚焊一直是电子行业的常见问题,由于电子产品的紧凑、复杂的内部结构及小型化的外形让普通检测仪器无法检测其内部缺陷,所以电路板虚焊如何有效检测这个问题的解决难度可想而知。经过多方实验研究,X-ray检测设备被越来越多的人认可,其电路板虚焊检测的效率、效果都让人省心又省力。

2021-12-31 16:39:18
查看详情
利用X-ray无损检测技术提高铸造件质量
利用X-ray无损检测技术提高铸造件质量

随着社会和法律法规对环境保护和节能的要求越来越严格,对铝铸件的质量要求也提高了。因此,铝铸件的检验越来越受到制造商的重视。 铝铸件因其精确的尺寸,光滑的表面以及在加工后直接使用而广泛用于许多行业,包括汽车行业,仪器行业,农业机械,机床行业等。

2021-12-31 15:40:00
查看详情
Xray检测焊接判定标准 质量好坏的鉴别
Xray检测焊接判定标准 质量好坏的鉴别

Xray检测焊接数字实时成像主要是由高频移动式(固定式)X射线探伤机、高分辨率工业电视系统、计算机图像处理系统、机械电气系统、射线防护系统五部分组成的高科技产品。它主要是依靠X射线可以穿透物体,并可以储存影像的特性,进而对物体内部进行无损评价。通过焊接实验验证(手动焊接,自动焊接,氩弧焊),焊缝可分为:银白色,金黄色,五彩(金黄色+蓝色),蓝色,深蓝色,灰黑色(有光泽),死黑灰等几种。焊接颜色代表焊接质量,其好坏与焊接工艺参数和焊工的技术水平密不可分。

2021-12-24 11:50:54
查看详情
专业检测机构:smt贴片加工中X-ray检测和切片测试的区别
专业检测机构:smt贴片加工中X-ray检测和切片测试的区别

在smt加工中由于很多高精密pcba电路板有大量的BGA和IC芯片,这种封装的核心器件在焊接过后从表面无法直接看到内部的焊接状况。因此smt加工厂是必须要配备相关的检测设备进行的,这里针对这一类焊接的检测设备主要是X-ray。

2021-11-10 14:56:03
查看详情
X-RAY检测工作原理和适用范围
X-RAY检测工作原理和适用范围

随着电子技术的不断发展,SMT技术越来越普及,单片机芯片的体积越来越小,单片机芯片的脚位也在逐渐增加,特别是近年来出现的BGA单片机芯片。因为BGA单片机芯片周围没有按传统设计分布,而是分布在单片机芯片底部,根据传统的人工视觉检测,无疑无法判断焊点的质量,因此必须根据ICT甚至功能进行测试。但若存在批量错误,则无法及时发现并纠正,人工视觉检测是最不准确、重复性最差的技术。所以X-ray检测技术在SMT回流焊后检测中的应用日益广泛。既能对焊点进行定性分析,又能及时发现故障并纠正。

2021-09-18 17:42:00
查看详情
PCBA中X-ray检测技术的应用
PCBA中X-ray检测技术的应用

X-ray检测技术如何更好地应用于PCBA?首先让我们了解一下PCBA行业的发展。伴随着高密度封装技术的发展,测试技术也面临着新的挑战。许多新技术也不断出现,以应对新的挑战。X-ray检测技术是一种非常重要的方法,通过X-ray检测,可以有效控制BGA的焊接和组装质量。目前,X-ray检测系统不仅用于实验室分析,也用于许多生产行业。PCBA行业就是其中之一。X-ray检测技术在某种程度上是保证电子组装质量的必要手段。

2021-09-16 16:08:00
查看详情
X-ray检测IGBT内部缺陷有什么优势?
X-ray检测IGBT内部缺陷有什么优势?

IGBT是由双极晶体管和绝缘栅场效应晶体管组成的复合完全受控电压驱动功率半导体设备,具有MOSFET高输入阻抗和GTR低导通压降两大优点。

2021-09-13 15:15:00
查看详情
缺陷对半导体电性能有什么影响?使用x-ray检测内部缺陷的优点
缺陷对半导体电性能有什么影响?使用x-ray检测内部缺陷的优点

当半导体中掺入微量杂质时,杂质原子附近的周期势场受到干扰,形成额外的束缚状态,在禁带中产生额外的杂质能级。能够提供电子载流子的杂质称为施主(Donor)杂质,相应的能级称为施主能级,位于禁带上方靠近导带底部。

2021-09-13 15:12:00
查看详情
1 2 3 4 5
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定