服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
EMC电磁兼容检测整改技巧及注意事项
EMC电磁兼容检测整改技巧及注意事项

EMC测试(电磁兼容性测试)的全称是 Electro Magnetic Compatibility,其定义是设备和系统在其电磁环境中能正常工作且不对环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。因此,EMC测试包括两个方面的要求:一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值;另一方面是指器具对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度,即电磁敏感性。

2022-12-08 14:51:00
查看详情
电子焊接技术 电路板手工焊锡注意事项
电子焊接技术 电路板手工焊锡注意事项

在电子行业中电子产品的生产制作中,元器件的连接处需要用焊锡丝来焊接,而焊接的质量对生产制作的质量影响极大。为了保证其更好的应用效果,通常会在之后使用手工焊接锡线。为增进大家对电路板手工焊锡的认识,以下是小编整理的电子焊接技术相关内容,希望能给您带来参考与帮助。

2022-12-07 16:29:14
查看详情
欧盟ROHS认证检测目的及项目范围
欧盟ROHS认证检测目的及项目范围

RoHS认证是由欧盟立法制定的一项强制性标准,它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用莫些有害成分的指令》(Restriction of Hazardous Substances)该标准已于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。

2022-12-06 16:09:46
查看详情
涂层/镀层失效分析检测基本流程
涂层/镀层失效分析检测基本流程

伴随着生产制造和科技的发展趋势,涂/涂层原材料逐渐出現在我们的视线而且快速发展并遍及于人们日常生活。总体来说,将来对涂/涂层原材料技术性总的发展趋向是性能卓越化、高功能性、智能化系统和环保化等。根据失效分析一系列剖析认证方式,能够搜索其无效的直接原因及原理,其在提升产品品质、加工工艺改善及义务诉讼等领域有着关键实际意义。

2022-12-06 16:08:42
查看详情
芯片测试需要什么设备?芯片功能测试主要方法
芯片测试需要什么设备?芯片功能测试主要方法

近年来,中国大陆半导体设备市场需求增长迅速,在这一背景下,芯片晶圆检测必须使用的高精密检测设备亦有着越来越广阔的市场。由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-12-02 15:14:58
查看详情
芯片是如何制造的?工艺流程步骤说明
芯片是如何制造的?工艺流程步骤说明

从芯片的发展历史来看,芯片的发展方向是高速、高频、低功耗。芯片的制造工艺流程主要包括芯片设计、晶片制造、封装制造、成本测试等几个环节,其中晶片制造过程尤为复杂。让我们来看看芯片的制造工艺流程,尤其是晶片制造工艺流程。

2022-12-02 15:14:25
查看详情
高温高湿测试给产品带来哪些影响?标准是什么?
高温高湿测试给产品带来哪些影响?标准是什么?

高温高湿测试即模拟产品存储、工作的温湿度环境,检验产品在此环境下一段时间后所受到的影响是否在可接受的范围内。产品存储、工作的环境都带有一定的温度、湿度,而且有些环境的温度、湿度比较高。产品长时间处于这种较高的温湿度环境下,性能、寿命会受到一定的影响。所以需要对产品进行高温高湿测试,以了解产品这方面的性能,如果达不到要求,就需要对产品进行相应的改进。

2022-12-01 15:34:43
查看详情
电子元器件做老化测试的重要性
电子元器件做老化测试的重要性

在PCB电路板和元器件生产制造过程中,提高贴片加工的生产效率和良品率尤为重要,为企业降低生产成品,可以提高企业的经济效益。老化测试的目的是为了在最短时间内利用实验室的设备模拟实际运行中绝缘材料在长期工作下其绝缘性能的变化。由此,国外实验研究部门的科学家做了大量的研究和实验探索,最终确定了绝缘材料模拟加速老化实验方法。

2022-11-30 15:28:00
查看详情
X-ray检测设备的机构组成及运用范围有哪些?
X-ray检测设备的机构组成及运用范围有哪些?

x-ray检测技术是一种新型工艺方法和分析技术,可以完成肉眼看不到的产品缺陷检测,并且实现了100%无损检测,也就是说,可以精准检测产品内部问题并且不会对产品造成任何损坏。x-ray检测凭借着自身独特优势,成功吸引了各工业产业的关注,被广泛应用于生产线上。x-ray检测设备是一种利用低能X光快速检测被检物体内部质量和异物,并通过计算机显示被检物体图像的检测方法。

2022-11-30 15:25:28
查看详情
光电子元器件的可靠性测试怎么做?
光电子元器件的可靠性测试怎么做?

光电子器件是利用光电转换效应制成的各种功能器件,能够实现光信号的产生、信号调制、探测、连接、能量分合、能量增减、信号放大、光电转换、电光转换等功能。光电子器件是光电子技术的关键和核心部件,各行业对光电子元器件的检测是一项必不可少的基础工作。而需要做可靠性检测的产品种类很多,每个行业的检测需求也不同,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。那么光电子元器件的可靠性测试怎么做?接下来一起来看看吧。

2022-11-29 16:08:56
查看详情
1 2 … 66 67 68 69 70 … 156 157
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定