服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
基本的元器件检测 常用方法汇总
基本的元器件检测 常用方法汇总

电子元器件检测是检测服务行业技术在电子信息产业中的运用,是电子元器件具体产业链中的重要环节,检测服务技术水平与电子元器件质量息息相关。特别对初学者来说,熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要,以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。

2022-01-10 14:50:26
查看详情
Mos管(场效应管)失效分析知识点详解
Mos管(场效应管)失效分析知识点详解

MOS管做为电压驱动大电流型器件,在电路尤其是动力系统中大量应用,MOS管有一些特性在实际应用中是我们应该特别注意的。

2022-01-10 13:47:26
查看详情
MOS管
Mos管被静电击穿的原因分析及解决方案

MOS管学名是场效应管,是金属-氧化物-半导体型场效应管,属于绝缘栅型。MOS管为什么会被静电击穿?静电击穿是指击穿MOS管G极的那层绝缘层吗?击穿就一定短路了吗?JFET管静电击穿又是怎么回事?

2022-01-10 13:35:00
查看详情
Image
这些原厂涨价生效,请查收!—— 2021年12月行业资讯汇总

缺芯大潮不休不止,元旦前后又有几个原厂的涨价生效,这其中有的在去年第四季度公布,有的是刚刚公布。这批原厂涨价,刚好对应新一轮晶圆代工涨价,这次又是联电“戏最多”。除此以外,近期的存储市场也因疫情出现变数,但相比晶圆代工,影响较为有限。

2022-01-07 13:32:00
查看详情
电子产品测试机构:可靠性测试芯片的方法
电子产品测试机构:可靠性测试芯片的方法

芯片质量好坏主要是由市场,性能和可靠性三要素决定的。首先,在芯片的开发前期,需要对市场进行充分调研,才能定义出符合客户需求的SPEC;其次是性能,IC设计工程师设计出来的电路需要通过designer仿真,DFT电路验证,实验室样品评估,及样品出货前的FT,才能认为性能符合前期定义的要求;最后是可靠性,由于经过测试的芯片只能保证客户在刚拿到样品的时候是好的,所以还需要进行一系列应力测试,模拟客户端一些严苛使用条件对芯片的冲击,以评估芯片的寿命及可能存在的质量风险。

2022-01-07 13:30:00
查看详情
元器件检测技能:电子元件故障检查注意事项
元器件检测技能:电子元件故障检查注意事项

一般数字电路只要设计没有问题,数字电路是比较稳定的。最容易出问题的是那些分离元件,比如晶体管等等。所以在设计中最好用比较成熟的电路和集成电路模块,这样会保证系统的稳定性。针对电子产品故障现象,可以通过观察、听觉、噢觉和触觉去处理故障元器件,省去许多不必要的测试手段。如果上述方法都不奏效,就需要使用仪器仪表对可疑元件和有关电路进行测试,找出故障点。当某些元器件发生故障以后,通常会造成整个或个别部分电路停机,使之无法工作,对电子产品产生不正常的变化,故对元器件故障的判断与维修是一个十分重要的步骤。

2022-01-07 12:00:10
查看详情
一些常见电子元器件失效检测
一些常见电子元器件失效检测

电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件,设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用,在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。下面是部分常见电子元器件失效检测整理的相关内容,供大家参考。

2022-01-07 11:56:00
查看详情
语音芯片如何烧录语音?快来看看你了解多少!
语音芯片如何烧录语音?快来看看你了解多少!

语音芯片是可以存储控制播放语音的集成电路,英文名为Speech IC,是内置少量存储空间,1Mbit-4Mbit,存储时间为40-160秒的,可由按键控制或MCU控制的、直接发声的集成电路芯片。也是将语音信号通过采样转化为数字信号,存储在集成电路的ROM中,再通过电路将ROM中的数字还原成语音信号。从名字的意义上,就可以看出,它是一种在电子产品的基础上增加语音的功能,也就是说把录入的语音通过改芯片进行处理后通过喇叭播放出来。

2022-01-06 11:52:44
查看详情
如何检测芯片是否能烧录?语音芯片的烧录方法
如何检测芯片是否能烧录?语音芯片的烧录方法

芯片烧录的方法有很多,在大规模生产中,还是以烧录器烧录为主。使用烧录器烧录,就都得使用到烧录座。每个烧录座的使用次数就不能得到有效的监控,一旦超过烧录座的使用寿命,就没办法保证芯片的烧录品质。而烧录座也不具备侦测该烧录座与所需烧写的芯片的是否匹配的功能,那么该如何检测芯片是否能烧录?

2022-01-06 11:41:00
查看详情
芯片测试公司:ic芯片烧录后是否可以重烧?
芯片测试公司:ic芯片烧录后是否可以重烧?

随着电子技术的发展,芯片需求量不断增加,为了提高生产的效率,多工位ic芯片烧录技术已经被广泛的使用。烧录芯片就是芯片作为一种处理器,在工作上需要有程序,来将所有组件小型化至一块或数块集成电路内;一种集成电路,可在其一端或多端接受编码指令,执行此指令并输出描述其状态的信号,而将程序存储到芯片中的这一过程,就被称为芯片烧录。

2022-01-06 11:38:00
查看详情
1 2 … 116 117 118 119 120 … 157 158
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定