可靠性试验按项目可分为环境试验、寿命试验、特殊试验和现场使用试验。电子产品的可靠性试验大致包括：高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。其中高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。

2021-12-28 13:22:00

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电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段，发生在产品研制阶段、生产阶段到使用阶段的各个环节，通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的失效产品明确失效模式、分析失效机理，最终明确失效原因。

2021-12-27 14:10:00

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电子电气设备的电性能的好坏直接影响到整个电气系统的安全，可靠运行，为了保证设备安全，所有的电子电气设备在生产制造过程中，必须通过各种型式试验，保证电气环境的安全。电性能测试包括导线电阻、绝缘电阻、介质损耗角正确值、电容等导体或绝缘品质的基本参数测试。电缆的工作电压愈高，对其电性能要求也愈严格。

2021-12-27 14:03:37

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一部分工程师大概会碰在研发测试阶段烧录芯片都没有问题，但是一旦进入量产，生产部门就频繁反馈芯片出现烧录不良的情况，那么原因究竟在哪里？芯片烧录程序烧不进？下面主要介绍造成烧录不良的原因分析。

2021-12-27 13:57:58

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在线烧录，集烧录与测试一体，得到了越来越多的人重视。为了加快烧录的效率，往往会制作烧录工装或夹具，而工装、夹具与编程器之间需要比较长的接线，接线越长，信号衰减越快，烧录不良率也随之增加，本文将介绍改善芯片烧录不稳定的几种措施。

2021-12-27 13:53:06

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芯片可靠性测试主要分为环境试验和寿命试验两个大项，其中环境试验中包含了机械试验（振动试验、冲击试验、离心加速试验、引出线抗拉强度试验和引出线弯曲试验）、引出线易焊性试验、温度试验（低温、高温和温度交变试验）、湿热试验（恒定湿度和交变湿热）、特殊试验（盐雾试验、霉菌试验、低气压试验、静电耐受力试验、超高真空试验和核辐射试验）；而寿命试验包含了长期寿命试验（长期储存寿命和长期工作寿命）和加速寿命试验（恒定应力加速寿命、步进应力加速寿命和序进应力加速寿命），其中可以有选择的做其中一些。

2021-12-24 11:52:00

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芯片一般是不会坏的，如果坏的话最常见的也是击穿损坏，你可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压，一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低，大部分可以视为击穿损坏了，可以断开供电端，单独测量一下供电是否正常。如果测得的电阻较大，那很可能是其他端口损坏，也可以逐一测量一下其他端口。看是否有对地短路的端口。

2021-12-24 11:50:58

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Xray检测焊接数字实时成像主要是由高频移动式(固定式)X射线探伤机、高分辨率工业电视系统、计算机图像处理系统、机械电气系统、射线防护系统五部分组成的高科技产品。它主要是依靠X射线可以穿透物体，并可以储存影像的特性，进而对物体内部进行无损评价。通过焊接实验验证（手动焊接，自动焊接，氩弧焊），焊缝可分为：银白色，金黄色，五彩（金黄色+蓝色），蓝色，深蓝色，灰黑色（有光泽），死黑灰等几种。焊接颜色代表焊接质量，其好坏与焊接工艺参数和焊工的技术水平密不可分。

2021-12-24 11:50:54

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众所周知，在工业制造过程中，总会有各种生产缺陷，是不可避免的，以前大多数的产品检测都是用肉眼检查的，随着机器视觉技术的发展，使用机器代替人眼检测已成为未来的发展趋势。在工业生产中，使用机器视觉检测设备系统具有测量功能，能够自动测量产品的外观尺寸，比如外形轮廓、孔径、高度、面积等尺寸的测量。

2021-12-23 11:12:03

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机器视觉是一门涉及人工智能、神经生物学、心理物理学、计算机科学、图像处理、模式识别等诸多领域的交叉学科。机器视觉主要用计算机来模拟人的视觉功能，从客观事物的图像中提取信息，进行处理并加以理解，最终用于实际检测、测量和控制。例如在自动化制造行业中，用机器视觉测量、检测工件的各种尺寸参数，如长度测量、圆测量、角度测量、弧线测量、区域测量等，不但可以获取在线产品的尺寸参数，同时可对产品做出在线实时判定和分拣，应用十分普遍。

2021-12-23 11:05:22

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