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电子元器件失效分析(Failure analysis)
电子元器件失效分析(Failure analysis)

电子设备中大部分故障,究其最终原因都是由于电子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及时定位到元器件的故障原因,就能及时排除故障,让设备正常运行。电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础,元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。

2022-03-09 14:30:00
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PCB/PCBA失效分析(Failure analysis)
PCB/PCBA失效分析(Failure analysis)

PCBA是由PCB和各种电子元件组成的系统。PCB的主要材料是玻璃纤维和环氧树脂的复合材料,分为单面板,双面板和多层板。作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽已经成为电子信息产品的最为重要而关键的部分,其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。由于PCB高密度的发展趋势以及无铅与无卤的环保要求,越来越多的PCB出现了润湿不良、爆板、分层、CAF等等各种失效问题。PCB失效机理与原因的获得将有利于将来对PCB的质量控制,从而避免类似问题的再度发生。

2022-03-09 14:00:00
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复合材料失效分析(Failure analysis)
复合材料失效分析(Failure analysis)

复合材料,是由两种或两种以上不同性质的材料,通过物理或化学的方法,在宏观(微观)上组成具有新性能的材料。各种材料在性能上互相取长补短,产生协同效应,使复合材料的综合性能优于原组成材料而满足各种不同的要求。复合材料的基体材料分为金属和非金属两大类。金属基体常用的有铝、镁、铜、钛及其合金。非金属基体主要有合成树脂、橡胶、陶瓷、石墨、碳等。增强材料主要有玻璃纤维、碳纤维、硼纤维、芳纶纤维、碳化硅纤维、石棉纤维、晶须、金属丝和硬质细粒等。

2022-03-09 13:45:00
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涂/镀层失效分析(Failure analysis)
涂/镀层失效分析(Failure analysis)

涂/镀层不仅能够装饰零部件的外观,修复零件表面缺陷,而且还能赋予零件表面特殊性能,包括提高表面硬度、耐磨性、耐蚀性、导电性和高温抗氧化性等。涉及到的产品包括家用电器、汽车、门窗、金属紧固件和电子产品等。由于技术的全新要求和产品的高要求化,而客户对高要求产品及工艺理解不一,于是涂/镀层材料分层、开裂、腐蚀、变色等之类失效频繁出现,常引起供应商与用户间的责任纠纷,所以导致了严重的经济损失。通过失效分析一系列分析验证手段,可以查找其失效的根本原因及机理,其在提高产品质量、工艺改进及责任仲裁等方面具有重

2022-03-09 13:25:00
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可靠性基础知识 pcb常见品质问题分析方法
可靠性基础知识 pcb常见品质问题分析方法

PCB已经成为电子信息产品的最为重要而关键的部分,品质的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。由于成本以及技术的原因,PCB在生产和应用过程中出现了大量的失效问题。同一种失效模式,其中失效机理却是是复杂多样化的,需要正确的分析思路、缜密的逻辑思维和多样化的分析手段,才能找到真正的失效原因。

2022-03-08 14:55:00
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芯片失效分析如何处理?第三方检测单位
芯片失效分析如何处理?第三方检测单位

失效分析是确定芯片失效机理的必要手段,为有效的故障诊断提供了必要的信息。失效分析为设计工程师不断改进或者修复芯片的设计,使之与设计规范更加吻合提供必要的反馈信息。随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,芯片失效分析该如何处理?整理相关资料如下:

2022-02-28 14:43:00
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PCB失效问题检测 电子元件失效分析技术应用
PCB失效问题检测 电子元件失效分析技术应用

众所周知,产品的失效会造成较严重的经济损失和品质影响,然而PCB失效的模式多种多样,失效根因也各不相同。PCB的主要材料是玻璃纤维和环氧树脂的复合材料,分为单面板,双面板和多层板。因此,如何快速地定位出PCB的失效根因,并对产品的各项性能进行优化提升,已成为PCB行业的显得尤为重要。

2022-02-25 13:38:39
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失效分析的常规方法及思路
失效分析的常规方法及思路

失效是指电子元器件出现的故障。各种电子系统或者电子电路的重要组成部分一般是不同类型的元器件,当它需要的元器件较多时,则标志其设备的复杂程度就较高;反之,则低。一般还会把电路故障定义为:电路系统规定功能的丧失。

2022-02-23 16:54:13
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了解电子元件失效分类和失效机理
了解电子元件失效分类和失效机理

电子元件的发展历史实际上是电子发展的简史。电子技术是一种新技术,在二十世纪,它发展最快,使用最广泛,它已成为现代科学技术发展的重要标志。为了促进电子信息技术的进一步发展,就要提高电子元器件的可靠性,因此掌握电子元器件失效分析的技术就变得十分必要。

2022-02-23 16:27:27
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MLCC失效模式及分析方法大全汇总
MLCC失效模式及分析方法大全汇总

常见的IC失效模式:静电损伤、金属电迁移、芯片粘结失效、过电应力损失、金属疲劳、热应力、电迁移失效、物理损伤失效、塑料封装失效、引线键合失效。说到MLCC失效原因,在产品正常使用情况下,失效的根本原因是MLCC 外部或内部存在如开裂、孔洞、分层等各种微观缺陷。这些缺陷直接影响到MLCC产品的电性能、可靠性,给产品质量带来严重的隐患。

2022-02-15 18:19:42
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