服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
什么是EMC电磁兼容性?常见的emc测试项目包含哪些?
什么是EMC电磁兼容性?常见的emc测试项目包含哪些?

电磁兼容性(EMC)是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。因此,EMC包括两个方面的要求:一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值;另一方面是指器具对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度,即电磁敏感性。

2022-08-18 15:43:00
查看详情
关于RoHS检测 你关心的问题都有
关于RoHS检测 你关心的问题都有

对于中国企业来说,进入欧盟市场的电子电气产品都必须通过RoHS认证,确保产品中所含的这十项有害物质不超过限度标准,否则将无法出口产品至欧盟市场,就算侥幸成功出口,一经查出,或将面临巨额罚款甚至刑拘的处罚,甚至有可能导致整个企业被踢出欧盟市场(符合豁免机制情况除外)。

2022-08-18 15:42:27
查看详情
如何对基本电子元器件进行二次筛选?可靠性筛选试验方法
如何对基本电子元器件进行二次筛选?可靠性筛选试验方法

可靠性又分为固有可靠性和使用可靠性。电子元器件的固有可靠性是指元器件本身具有的可靠性,取决于产品的可靠性设计。由于工作条件、环境条件和人为因素等引发的可靠性问题,通过元器件二次筛选可以有效剔除缺陷元件,避免缺陷元件的使用,有效提高产品的使用可靠性。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-08-18 15:40:53
查看详情
对几种老化测试方法进行比较 产品老化测试目的
对几种老化测试方法进行比较 产品老化测试目的

产品为什么要进行老化测试,其目的是什么?老化测试检测标准可以根据客户指定,无特殊要求即根据国家相应标准进行老化测试检验。老化测试主要是模拟产品在现实使用过程中的各种恶劣条件的高强度测试,同时根据使用的要求,合理地预测产品使用寿命。

2022-08-17 18:24:30
查看详情
半导体器件的烘烤方法有哪些?时间需要多久?
半导体器件的烘烤方法有哪些?时间需要多久?

PCB在制造完成之后,都有一个保质期,超过这个保质期就需要对PCB进行烘烤,要不然容易使PCB在SMT上线生产时,产生PCB爆板的问题。烤板可以去除PCB线路板以及电子元器件上的水分,而且PCB线路板到达一定温度以后,助焊剂能更好的与元器件和焊盘结合,焊接的效果也会大大改善。PCB的保存时间以及烘烤PCB的温度和时间都是有行业规范的。详细内容如下:

2022-08-17 18:22:27
查看详情
湿热试验该如何选择?对产品有什么影响?
湿热试验该如何选择?对产品有什么影响?

湿热试验也是检验涂层耐腐蚀性能的一种方法,主要试验过程为饱和水蒸气对涂层的破坏。一般与盐雾试验同时进行。湿热环境普遍存在于电子产品的运输、贮存、使用整个寿命周期内,在湿热环境的影响下,电子产品中的绝缘材料和金属会吸附水蒸气,导致产品的退化现象出现。同时,在潮湿、温度和电应力的共同作用下,会引起电化学反应和金属腐蚀,导致电子设备的绝缘电阻下降、漏电增加,严重时出现飞弧、击穿的电路损坏等现象。下面主要对湿热试验进行简要分析,供大家参考。

2022-08-12 18:17:42
查看详情
电子产品气体腐蚀测试 具有腐蚀性的气体有哪些?
电子产品气体腐蚀测试 具有腐蚀性的气体有哪些?

腐蚀气体试验是用于确定工作或贮存的室内环境对电工电子产品元件设备与材料特别是接触件与连接件的腐蚀影响的实验。主要用于确定产品在大气环境下工作、储存的适应性,特别是接触件与连接见。影响腐蚀的主要因素有温度、湿度、大气腐蚀性成分等。实验的严苛程度取决于腐蚀性气体的种类和暴露持续时间,本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-08-12 18:09:53
查看详情
基本元器件测试 专业第三方检测机构
基本元器件测试 专业第三方检测机构

电子元器件可靠性试验是电子设备可靠性的基础,也是电子元件和电小型的的仪器机器的组成部分,其本身常由若干零件构成,可以在同类产品中通用,常指电器、无线电、仪表等工业零件,如电容、晶体管等子器件的总称。需要做可靠性检测的产品种类有很多,各企业的需求不同,会有不同的检测需求,那么电子元器件大都数情况下,都有哪些元器件产品该如何检测呢?让我们来了解一下。

2022-08-11 18:32:44
查看详情
ROHS测试:国标RoHS和欧盟RoHS 2.0具体区别
ROHS测试:国标RoHS和欧盟RoHS 2.0具体区别

ROHS是由欧盟法规制定的一项强制性标准,全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》。改标准于2006年7月1日正式实施,主要用于规范电子电器产品的材料及工艺标准,使产品更加利于人体健康和环境保护。改标准是为了消除电子电器中的铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚共六项物质,并重点限制了铅的含量不得超多0.1%。

2022-08-11 18:30:52
查看详情
连接器的可靠性测试项目包括哪些?第三方检测机构
连接器的可靠性测试项目包括哪些?第三方检测机构

连接器形式和结构是千变万化的,随着应用对象、频率、功率、应用环境等不同,有各种不同形式的连接器。它的作用是在电路内被阻断处或孤立不通的电路之间,架起沟通的桥梁,从而使电流流通,使电路实现预定的功能。连接器是电子设备中不可缺少的部件,顺着电流流通的通路观察,总会发现有一个或多个连接器。那么,连接器的可靠性测试项目包括哪些?本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-08-10 18:13:40
查看详情
1 2 … 77 78 79 80 81 … 156 157
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定