低温测试介绍: GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温试验 本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热里两类试验样品.本标准仅限于用来考核确定电工,电子产品(包括元件,设备及其他产品)在低温环境条件下贮存和使用的环境适应性。


芯片在出厂前需要进行环境测试,模拟芯片在气候环境下操作及储存的适应性,已确保其在极端环境下也可正常工作。高低温测试是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性的方法。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。


高低温测试又叫作高低温循环测试,是环境可靠性测试中的一项,试验目的是评价高低温条件对装备在存储和工作期间的性能影响。基本上所有的产品都是在一定的温度环境下存储保存,或者工作运行。


什么是电气性能?电气性能是描述电气的一些参数,如:额定电压、电流、有功功率、无功功率、电阻、电容、电感、电导。结构和性能之间呈现内在的关联性,其中聚集态结构是直接影响材料性能的重要因素。在局部放电损伤过程中,局部放电产生的热量导致表征油浸绝缘纸聚集态结构特征的结晶度增加、取向度加强,也必将引起其电性能发生变化。


集成电路版图设计就是指将电路设计电路图或电路描述语言映射到物理描述层面,从而可以将设计好的电路映射到晶圆上生产。版图是包含集成电路的器件类型,器件尺寸,器件之间的相对位置以及各个器件之间的连接关系等相关物理信息的图形,这些图形由位于不同绘图层上的图形构成。集成电路设计方法涉及面广,内容复杂,其中版图设计是集成电路物理实现的基础技术。


集成电路的电路设计中提高可靠性的基本原则是把对器件的要求与具体工艺情况结合起来,因此熟悉工艺特点是搞好设计的基础。在电路设计中可以采取以下一些措施来提高集成电路的可靠性:


随着现代电子技术的飞速发展,高科技设备不断对电子装备元器件的可靠性提出新的要求。作为设备系统中最基础的组成部分,其本身的使用可靠性极大的影响着电子设备的整体运行效率。在选择电子元器件的过程中,需保证元器件本身的可靠性,且符合设备系统的电性能指标及相关规定要求,以保证电子设备的运行可靠性。下面主要分析电子元器件产品的特点以及提出了相应的措施和方法。


实验室申请CNAS认可是一个周期长且较为复杂的事情,若对流程不清楚准备资料不充分,或人员设备不符合要求,则会大大影响受理和评审进度,少则几个月,多则跨年,甚至直接通不过。既然实验室通过CNAS认可有这么重要的意义。所以,了解和弄清楚申请 CNAS 认可的必备条件就显得尤为重要。实验室申请 CNAS 认可必备的七个条件以及不符合项改如何整改?下面创芯检测中心来详细说明。


中国合格评定国家认可委员会(英文缩写为:CNAS)是根据《中华人民共和国认证认可条例》的规定,由国家认证认可监督管理委员会(英文缩写为:CNCA)批准成立并确定的认可机构,统一实施对认证机构、实验室和检验机构等相关机构的认可工作。

