服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
认证培训
认证服务
培训服务
审厂服务
集成电路设计、整合验证分析服务
AS6081航空航天假冒电子元器件管理体系认证
ISO9001质量管理体系认证
ISO14001环境管理体系认证
ISO45001职业健康安全管理体系认证
ESD 静电管理体系认证
AS9120B 航空电子元件分销管理体系认证
ISO13485医疗器械 管理体系认证
IATF16949 汽车管理体系认证
QC080000 有害物质管理体系认证
管理体系标准培训
AS6081标准培训
ISO 9001标准培训
ISO 14001标准培训
ISO 45001标准培训
ESD S20.20标准培训
AS9120标准培训
ISO 13485标准培训
IATF 16949标准培训
QC 080000标准培训
专业技能培训
AS6081认证检验员
QC组建流程及要求
检测认证流程详解
实验室体系认证流程及标准
芯片行业背景介绍
全球电子产品供应链以及假冒产品如何进入供应链
IC基础知识
电子元器件可靠性验证必要性
电子元器件防伪检测技术前沿与实践
IC检测方法及检测标准
塑封元器件检测
BGA钢面芯片判定
模块等其他特殊封装检测
元器件失效分析介绍
终端客户售后问题解决方案
EMS制造工厂元器件来料质量管理体系完善
指导工程部门对来料管理制度的建立及运行
质检人员集成电路测试理论与方法的培训
集成电路设计、整合验证分析服务
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
image
“长短料”问题太突出,芯片行情何时现曙光?

持续一年的缺芯大潮还在持续,但它并非一成不变。随着时间推移,各类芯片的紧缺程度逐步分化。到现在,市场由普遍缺货发展为“长短料”的格局。也就是说,有的物料已经不再紧缺,有的仍然紧缺。

2021-11-26 13:50:00
查看详情
“缺芯潮”遍布全球!避免落入“假冒”芯片陷阱
“缺芯潮”遍布全球!避免落入“假冒”芯片陷阱

在芯片短缺的当下,部分生产商或经销商将芯片价格上调也在所难免,这是正常的市场现象,在没有过分涨价的情况下倒也无可厚非,芯片下游的各大终端产品制造商虽然会因此增加生产成本,但大多也都接受。然而,却有部分人利用需求端企业对芯片的渴求,做起了不法生意。这其中就可能混有伪造品。一些管理混乱的商家,有可能从其他企业采购伪造品,卖给成品厂商。

2021-11-26 13:49:00
查看详情
日本市场假芯片横行 ic真伪鉴别需求增涨近四倍
日本市场假芯片横行 ic真伪鉴别需求增涨近四倍

全球依旧面临芯片短缺的难题,不少工业、消费电子组装企业如今只能买到之前被退回仓库的滞销芯片。 由于这些滞销的芯片都是通过非正规渠道进行销售,导致假货横行。

2021-11-25 14:14:39
查看详情
这8种电阻的检测方法 你都了解吗?
这8种电阻的检测方法 你都了解吗?

A将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。为了提高测量 ,应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。由于欧姆挡刻度的非线性关系,它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范围内,以使测量更准确。

2021-11-25 14:00:00
查看详情
芯片用什么方法测试?x-ray缺陷检测
芯片用什么方法测试?x-ray缺陷检测

现阶段,市场只关心我们能不能造出来芯片。但随着芯片行业的成熟,市场未来的关注点势必会调整至我们能不能高效的制造芯片。虽然测试的市场份额仅占整个芯片制造产业链的6%,但其仍是一个十分重要的行业,甚至直接关乎芯片成品的品质,稍有不慎就会造成无法估量的后果。对于一款产品而言,或许在上市初期市场更关注它的性能,但从长期来看,决定产品长期价值的依然还是品质。

2021-11-24 16:12:26
查看详情
ic芯片载带是什么?专业检测机构告诉你答案
ic芯片载带是什么?专业检测机构告诉你答案

随着电子市场的发展,芯片有越来越小的趋势,载带也相应的向精密的方向发展,目前市场上已经有4mm宽度的载带供应。ic芯片载带是什么意思?芯片载带是指在一种应用于电子包装领域的带状产品,它具有特定的厚度,在其长度方向上等距分布着用于承放电子元器件的孔穴和用于进行索引定位的定位孔。

2021-11-23 15:09:25
查看详情
电子产品为什么要做可靠性测试?目的是什么?
电子产品为什么要做可靠性测试?目的是什么?

企业为什么要对电子产品进行可靠性测试,可靠性测试的意义在哪里?所谓可靠性就是产品在规定的条件下和规定的时间内,完成规定功能的能力产品在设计、应用过程中,不断经受自身及外界气候环境及机械环境的影响,而仍需要能够正常工作,这就需要用试验设备对其进行验证,这个验证基本分为研发试验、试产试验、量产抽检三个部分。简单来说可靠性是指在规定的时间,规定的条件下,完成规定功能的能力。

2021-11-23 14:38:20
查看详情
半导体可靠性测试的方法、目的及标准
半导体可靠性测试的方法、目的及标准

半导体可靠性测试主要分为环境试验和寿命试验两个大项,其中环境试验中包含了机械试验(振动试验、冲击试验、离心加速试验、引出线抗拉强度试验和引出线弯曲试验)、引出线易焊性试验、温度试验(低温、高温和温度交变试验)、湿热试验(恒定湿度和交变湿热)、特殊试验(盐雾试验、霉菌试验、低气压试验、静电耐受力试验、超高真空试验和核辐射试验);而寿命试验包含了长期寿命试验(长期储存寿命和长期工作寿命)和加速寿命试验(恒定应力加速寿命、步进应力加速寿命和序进应力加速寿命),其中可以有选择的做其中一些。

2021-11-23 14:32:02
查看详情
焊接方法有哪些?各有什么特点?
焊接方法有哪些?各有什么特点?

焊接是被焊工件的材质(同种或异种),通过加热或加压或两者并用,并且用或不用填充材料,使工件的材质达到原子间的结合而形成永久性连接的工艺过程。焊接技术是19世纪末、20世纪初发展起来的一种重要的金属加工工艺。由于它具有一系列技术上和经济上的优越性,目前已发展成为一门独立的学科,广泛应用于航空、航天、原子能、化工、造船、电子技术、建筑、交通等工业部门。

2021-11-22 13:15:34
查看详情
电子元器件的识别与选用 这几个检测方法很有效
电子元器件的识别与选用 这几个检测方法很有效

如今,电子产品的体积与重量日益缩小,产品越来越多元化,技术含量不断扩大,智能化程度大大提高,对电子产品的可靠性要求已成为衡量电子产品质量的重要指标,电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件,设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。因此怎么正确检测电子元器件就显得尤其重要,这也是电子维修人员必须掌握的技能。

2021-11-22 13:03:36
查看详情
1 2 … 126 127 128 129 130 … 160 161
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 百格测试(cross-cut test)-可靠性测试
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2026

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2026

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定