服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
金相试样常用的几种镶嵌方法
金相试样常用的几种镶嵌方法

金相样品镶嵌(又称镶样)是指在试样尺寸过小或者形状不规则导致研磨抛光困难,才需要镶嵌或者夹持,这样可以使试样抛磨方便,提高工作效率及实验的准确性。镶嵌一般分为冷镶和热镶、机械夹持三种,需要镶嵌的样品有以下几种:

2022-11-07 16:00:00
查看详情
常用的金相脱碳层深度测试方法介绍
常见的金相脱碳层深度测试方法介绍

钢在各种热加工工序的加热或保温过程中,由于氧化气氛的作用,使钢材表面的碳全部或部分丧失的现象叫做脱碳。脱碳层深度是指从脱碳层表面到脱碳层的基体在金相组织差异已经不能区别的位置的距离。下面主要对脱碳层深度测试方法进行简要分析,供大家参考。

2022-11-04 14:30:00
查看详情
金相试样制备如何磨制?详细步骤流程
金相试样制备如何磨制?详细步骤流程

正确地检验和分析金属的显微组织必须具备优良的金相样品。制备好的试样应能观察到真实组织、无磨痕、麻点与水迹,并使金属组织中的夹物、石墨等不脱落。否则将会严重影响显微分析的正确性。金相样品的制备分取样、磨制、抛光、组织显示(浸蚀)等几个步骤。

2022-11-04 14:08:00
查看详情
电子元器件X射线焊缝探伤检测问题汇总
电子元器件X射线焊缝探伤检测问题汇总

随着科技的进步,电路板上装满了越来越小的元件,依靠机器或人工来进行焊接还需要进行焊点的检测来保证电路板的正常运行。x-ray是利用X射线的穿透性,因其波短,能量大,能轻松的穿透所检物质,当X射线穿透物质与未穿透物质形成差异化,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来。

2022-10-28 16:15:02
查看详情
芯片测试都有哪些内容?IC芯片可靠性测试标准
芯片测试都有哪些内容?IC芯片可靠性测试标准

芯片在各种电子设备中,和人体器官发挥的作用类似。为了达到这样级别的芯片运行的可靠性水平,测试和测量在整个芯片设计和封装测试过程中起着至关重要的作用。半导体制造工厂在对芯片每个工艺参数进行精确控制的同时,也会在生产的每个阶段进行测试,尽早排除有缺陷的零件。接下来文中将简单介绍IC芯片可靠性测试,一起来看看吧!

2022-10-28 16:13:28
查看详情
Image
结构剖面锁定异常点,一文了解金相切片在IC检测中的应用

金相切片,又名切片(cross-section),指切开材料或器件,观察其某一剖面,以了解其内部结构情况。进行切片测试需要用特制液态树脂将样品包裹固封,然后进行研磨抛光,再通过电子显微镜观察组织结构,最终锁定异常点并得出检测结论。

2022-10-27 11:11:00
查看详情
不同型号芯片烧录 怎样选择适合产品的烧录方式?
不同型号芯片烧录 怎样选择适合产品的烧录方式?

芯片烧录就是芯片刷入软件,也称为固件。原厂出的货一般是没有经过烧录的,但本质上是具有一定的代码的。将程序“搬运”到芯片内部存储空间的过程称为烧录,烧录方法一般分为离线烧录和在线烧录,不同的烧录方法会影响到工厂的生产过程、工装夹具的设计等。不同型号芯片烧录,该怎样选择适合产品的烧录方式?

2022-10-27 11:00:00
查看详情
fmea风险评估三要素 FMEA的目的主要是什么?
fmea风险评估三要素 FMEA的目的主要是什么?

FMEA是在产品设计阶段和过程设计阶段,对构成产品的子系统、零件,对构成过程的各个工序逐一进行分析,找出所有潜在的失效模式,并分析其可能的后果,从而预先采取必要的措施,以提高产品的质量和可靠性的一种系统化的活动。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-10-27 11:00:00
查看详情
电子元器件低温焊接工具及注意事项
电子元器件低温焊接工具及注意事项

金属的焊接本来就是一项比较充满技术性的工艺,因此,在其操作的过程中往往具有一定的难度。低温焊接施工时需要注意温度、焊接材料、预热、焊缝及冷却等环节。低温下,焊件表面容易结霜和滑动,给焊接作业带来困难。因此使用焊接工具要严格注意以下环节,确保在低温环境下焊接工艺的高质量完成。

2022-10-26 16:13:45
查看详情
怎样选择无损检测方法?四种无损检测探伤方法对比
怎样选择无损检测方法?四种无损检测探伤方法对比

无损探伤指的是不损坏工件或原材料工作状态的前提下,对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。是检验部件的表面和内部质量的测试手段。利用声、光、磁和电等特性,在不损害或不影响被检对象使用性能的前提下,检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性,给出缺陷的大小、位置、性质和数量等信息,进而判定被检对象所处技术状态(如合格与否、剩余寿命等)的所有技术手段的总称。

2022-10-26 16:11:44
查看详情
1 2 … 70 71 72 73 74 … 156 157
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定