晶振不起振现象的问题原因分析

日期:2022-07-25 16:06:11 浏览量:972 标签: 晶振

晶振根据频点、频差、负载、有源无源、封装、尺寸等多项参数的差异,晶振工作时容易发生频率偏移导致不起振现象,造成电子产品无法正常工作。 以下内容帮助大家分析晶振不起振的原因,由创芯检测网整理提供给您参考。

晶振不起振现象的问题原因分析

一、晶振虚焊或者连锡

这种情况对于电子产品外发贴片来说,任何位置的芯片都有可能出现贴片不良,什么情况下会造成虚焊或者连锡,

1. 晶振焊盘偏小,设计不合理,造成在贴片机放置时偏移或者放置不到位,焊盘小,锡膏也会少,焊接也会不可靠,所以解决办法是加大焊盘。

2. 贴片机涂刷锡膏厚度不够,回流焊的过程是相对复杂,贴片元件在过回流焊接时,助焊剂偏少或者温度曲线不合理等原因,造成贴片焊机的虚焊出现。

3. 运输过程中的保护不到位,运输过程中碰撞造成锡膏脱落。

二、晶振毁坏

1:生产过程种有坠落状况,意思是只晶振电路导致外部的过大撞击力,由于晶振电路芯片较为薄,必须轻拿小心轻放。

2:晶振电路电焊焊接到电路板上情况下很有可能电焊焊接溫度过高造成 晶振电路欠佳。

3: 电焊焊接操作过程中造成空焊,也就是假电焊焊接,使晶振电路不插电。

4:晶振电路电焊焊接以后,焊锡丝与路线相接,导致出现短路状况。

5:在测漏工艺流程中,便是在乙醇充压的条件下,石英石晶体谐振器非常容易造成碰壳状况,即震动时集成ic跟机壳非常容易碰撞,进而结晶非常容易产生时振时萎靡或停振;

6:在压封时,结晶內部规定真空包装充氮,假如产生压封欠佳,即结晶的密闭性不太好时,在乙醇充压的标准下,其主要表现为漏汽,称作双漏,也会造成 停振;

7:因为集成ic自身的壁厚非常薄,当鼓励输出功率过大时,会使內部石英石集成ic损坏,造成 停振;

8:有作用负荷会减少Q值(即品质因素),进而使结晶的可靠性降低,非常容易受附近数字功放部件危害,处在不稳定情况,发生时振时萎靡状况;

9:因为结晶在剪脚和焊锡丝的情况下很容易发生机械设备压力和内应力,而焊锡丝溫度过高和功效時间过长都是会危害到结晶,非常容易造成 结晶处在临界阻尼,以致发生时振时萎靡状况,乃至停振;

10:在焊锡丝时,当锡条通过pcb线路板上小圆孔渗过,造成 引脚后跟机壳联接在一块,或者结晶在生产流程中,底座上管脚的锡点和机壳相互连接产生单漏,都是会导致短路故障,进而造成停振;

11:当结晶頻率产生頻率飘移,且超过石英晶振误差范畴太多时,以致于捕获不上结晶的核心頻率,进而造成 集成ic不起振。

三、晶振选型问题

晶振的选型是相当重要的。选型前最好联系方案供应商获取所需晶振的各项电气参数。参数不匹配,则很容易出现问题。

1)晶振的旁路电容,可以协助起振、微调晶振输出频率的作用,一般在10~20PF左右,但当在贴片过程中,出现混料,造成两个旁路电容相差较大时,则会造成晶振不起振。或者设计的旁路电容不合理,处于边界参数时,有可能会不起振。

2)晶振电阻过大,容易造成晶振不起振。请根据电路需求选择电阻值较小的晶振。

3)晶振在工作中发生逐渐停振不良现象,具体表现为用手触摸或者用电烙铁加热晶振引脚又开始工作。分析原因可能是因为振荡电路中的负性阻抗值太小,建议尝试调整晶振外接电容值来满足振荡电路的回路增益。

4)激励功率过大或过小。晶振发烫,排除工作环境温度对晶振的影响,最可能出现的情况是激励功率过大。建议将激励功率降低,可增加限流电阻来调节激励功率的大小。如果是激励功率过小,建议增加电路负性阻抗,或者选择负载电容较小的晶振。

四、晶振质量问题

1)在生产过程中,要求将晶振内部抽真空后充氮气,如果出现压封不良,会导致晶振气密性不良而漏气。

2)晶振DLD2超差。晶振的制程要求在万级无尘车间完成。如果空气中的水蒸气小液滴或细微尘埃颗粒附着在石英晶片电极,会导致DLD2超差,造成晶振不起振。

3)晶振本身质量有问题,这种情况出现在小品牌或者购买的拆机元件中可能性大点,当晶振批量生产过程中,不良率很高,就可以将损坏的晶振提供给供应商进行分析,并要求供应商提供8D报告,找到问题点,并进行整改管控。

本篇文章就介绍到这了,希望对您有所帮助。虽然晶振小小的,但能造成晶振不工作的情况有很多,需要仔细分析找到根本原因,并解决问题。否则会对产品的质量稳定性产生极大的影响,对公司造成很大的损失。所以需要慎重对待。

相关阅读
五月芯资讯回顾:原厂涨价函不断,疫情影响供应链

刚刚过去的五月,全球多地疫情反弹,大宗商品涨价延续,IC产业链毫无意外,缺货涨价仍是主旋律。下面就来梳理一下过去的一个月,业内都有哪些值得关注的热点。

2021-06-04 11:16:00
查看详情
马来西亚管控延长,被动元件又悬了?

自五月以来,马来西亚疫情不断升温,每日新增确诊高峰曾突破9000例。严峻形势之下,马来西亚政府于6月1日开始执行为期半个月的全面行动管制。在这之后,每日新增病例呈现下降趋势。

2021-06-18 15:41:07
查看详情
内存市场翻转,涨价来袭!

据媒体近日报道,内存正在重回涨价模式,从去年12月到今年1月,涨幅最多的品种已达30%。据行情网站数据,各类内存条、内存颗粒在12月上旬起开始涨价,至今仍没有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看详情
被动元件涨价启动,MLCC和芯片打头阵

据台媒近日报道,MLCC两大原厂三星电机和TDK近期对一线组装厂客户发出通知,强调高容MLCC供货紧张,即将对其调涨报价。在芯片电阻市场,台厂国巨正式宣布从三月起涨价15-25%。紧接着,华新科也对代理商发出涨价通知,新订单将调涨10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看详情
深圳福田海关查获大批侵权电路板,共计超过39万个

据海关总署微信平台“海关发布”10日发布的消息,经品牌权利人确认,深圳海关所属福田海关此前在货运出口渠道查获的一批共计391500个印刷电路板,侵犯了UL公司的“RU”商标专用权。

2021-03-05 11:12:00
查看详情
可靠性测试:常规的可靠性项目及类型介绍

可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的,可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验,通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验,一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。

2021-04-26 16:17:00
查看详情
产品进行可靠性测试的重要性及目的

产品在一定时间或条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。可通过可靠度、失效率还有平均无故障间隔等来评价产品的可靠性。而且这是一项重要的质量指标,只是定性描述就显得不够,必须使之数量化,这样才能进行精确的描述和比较。

2021-04-26 16:19:00
查看详情
汇总:半导体失效分析测试的详细步骤

失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。 常见的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因为失效分析设备昂贵,大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备,因此借用外力,使用对外开放的资源,来完成自己的分析也是一种很好的选择。我们选择去外面测试时需要准备的信息有哪些呢?下面为大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看详情
芯片常用失效分析手段和流程

一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。芯片失效分析的常用方法不外乎那几个流程,最重要的还是要借助于各种先进精确的电子仪器。以下内容主要从这两个方面阐述,希望对大家有所帮助。

2021-04-26 16:41:00
查看详情
值得借鉴!PCB板可靠性测试方法分享

PCB电路板是电子元件的基础和高速公路,又称印刷电路板,是电子元器件电气连接的提供者。它的发展已有100多年的历史了;它的设计主要是版图设计;采用电路板的主要优点是大大减少布线和装配的差错,提高了自动化水平和生产劳动率。PCB的质量非常关键,要检查PCB的质量,必须进行多项可靠性测试。这篇文章就是对测试的介绍,一起来看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看详情