电子产品寿命试验(life test)-可靠性测试

日期:2022-04-08 15:13:52 浏览量:1516 标签: 可靠性测试 电子产品寿命试验

可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。评价、分析产品寿命特征的试验称为寿命试验,它是可靠性鉴定与验收试验中最重要的一类试验。寿命试验可以分为贮存寿命试验、工作寿命试验、加速寿命试验。通过寿命试验可以了解产品寿命的特征和失效规律,计算出产品的平均寿命与失效率等可靠性指标,以便作为可靠性设计、可靠性预测、改进产品质量的重要依据。 

寿命试验是在实验室条件下,模拟实际工作状况而进行的试验。虽然这种模拟尚存在着一定的近似性,但试验结果却有很大的参考价值。这种试验不但可以用来考核零部件及结构的可靠性、材料以及制造工艺的合理性,还可以鉴定和改进产品的质量。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的,可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验,通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验,一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。

电子产品寿命试验(life test)-可靠性测试

1.以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验;

2.以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验;

3.以试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验;

4.以试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类;

5.但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类:环境试验、寿命试验、筛选试验、现场使用试验。

寿命试验又细分成不同的分类(见下图)

寿命试验又细分成不同的分类

概括来说,寿命试验的目的有三点:

1、弄清产品的寿命分布

通过寿命试验找出零部件或产品的寿命分布,这对设计和应用都有重要意义。例如轴承的寿命服从威布尔分布;电子元件的寿命一般符合对数正态分布和威布尔分布;合金钢的高温持久寿命服从对数正态分布;由大量电子元件组成的系统则服从指数分布等。

2、求得产品的各项可靠性指标

通过寿命试验,可以求得产品的失效率、失效密度、失效概率、可靠度、平均寿命、寿命方差等指标,由此可以评价产品的质量。

3、研究产品的失效机理

通过寿命试验可以找出产品失效的原因,并在此基础上建立产品失效的物理和数学模型,弄清其失效机理,并能用模型进行理论预测工作。

寿命试验在可靠性试验中作用

寿命试验是可靠性试验中最重要、最基本的内容之一。它是将样品放在特走的试验条件下, DAC8550IBDGKRG4测量其失效(损耗)的数量随时间的分布情况。因为失效是按先后次序出现的,所以可利用次序统计量理论来分析寿命试验数据,从而可以确定产品的寿命特征、失效分布规律,计算产品的失效率和平均寿命等可靠性指标。此外,还可以从中确定产品合理的可靠性筛选工艺及条件,进一步改进保证产品质量的依据。

有效的寿命测试项目

高加速寿命试验(HALT)和加速寿命试验(ALT)是产品可靠性设计中运用的最有效的两种可靠性试验技术。高加速寿命试验适合用于发现设计缺陷,确定失效机理,描述产品裕度。当主要失效机理不是由于耗损原因引起时,最好用高加速寿命试验。而加速寿命试验适用于描述由磨损造成的失效机理,通常用来检验机构在超出用户预期和超出担保期的情况下产生的失效情况。

在多数情况下,这两种方法最好结合起来使用。因为每种方法适用于揭示不同类型的失效机理。两种方法的适当结合,为产品可靠性设计提供了一套完整全面的试验手段。

高加速寿命试验(HALT)是由美国Hobbs工程公司总裁GreggKHobbs博士首先提出来的。从90年代开始,HALT获得推广应用。HALT的最大特点是时间上的压缩,即在短短的几天内模拟一个产品的整个寿命期间可能遇到的情况。

寿命试验相关标准

GB2689.1-81恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则

GB2689.2-81寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)

GB2689.3-81寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)

GB2689.4-81寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)

寿命试验是研究产品寿命特征的方法,这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律。通过寿命试验,可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理,作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行(批量保证)试验条件等的依据。

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