电子产品的可靠性测试基础知识
日期：2021-12-28 13:22:00 浏览量：1093 标签: 可靠性测试
一般来说为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验，是为预测从产品出厂到其使用寿命结束期间的质量情况，选定与市场环境相似度较高的环境应力后，设定环境应力程度与施加的时间，主要目的是尽可能在短时间内，正确评估产品可靠性。
可靠性试验按项目可分为环境试验、寿命试验、特殊试验和现场使用试验。电子产品的可靠性试验大致包括：高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。其中高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。HALT的可靠性测试技术在国内外电子业界已得到广泛关注和认识。
_20211228134331_405.jpg "电子产品的可靠性测试基础知识")
物理特性测试项目
1、内部水汽：确定在金属或陶瓷封装的光电子器件内部气体中水汽含量。
2、密封性：确定具有内空腔的光电子器件封装的气密性。
3、ESD阔值：确定光电子器件受静电放电作用所造成损伤和退化的灵敏度和敏感性。
4、可燃性：确定光电子器件所使用材料的可燃性。
5、剪切力：确定光电子器件的芯片和无源器件安装在管座或其他基片上使用材料和工艺的完整性。
6、可焊性：确定需要焊接的光电子器件引线（直径小于30175mm的引线，以及截面积相当的扁平引线）的可焊性。
7、引线键合强度：确定光电子器件采用低温焊、热压焊、超声焊等技术的引线键合强度。
电子产品可靠性试验的意义
可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。具体意义有：
(1) 发现产品的设计、元器件、零部件、原材料和工艺等方面的各种缺陷；
(2) 为改善产品的完好性、提高任务成功性、减少维修人力费用和保障费用提供信息；
(3) 确认是否符合可靠性定量要求。
为实现上述目的，根据情况可进行实验室试验或现场试验。
实验室试验是通过一定方式的模拟试验，试验剖面要尽量符合使用的环境剖面，但不受场地的制约，可在产品研制、开发、生产、使用的各个阶段进行。具有环境应力的典型性、数据测量的准确性、记录的完整性等特点。通过试验可以不断地加深对产品可靠性的认识，并可为改进产品可靠性提供依据和验证。
现场试验是产品在使用现场的试验，试验剖面真实但不受控，因而不具有典型性。因此，必须记录分析现场的环境条件、测量、故障、维修等因素的影响，即便如此，要从现场试验中获得及时的可靠性评价信息仍然困难，除非用若干台设备置于现场使用直至用坏，忠实记录故障信息后才有可能确切地评价其可靠性。当系统规模庞大、在实验室难以进行试验时，则样机及小批产品的现场可靠性试验有重要意义。
