服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
元器件检测相关资讯
元器件检测时的注意事项 第三方质量鉴定
元器件检测时的注意事项 第三方质量鉴定

正确的元器件检测可以及时发现元器件的故障和损坏,防止电路故障导致的严重后果。在电子工程师日常工作中也是非常重要的一项技能,通过元器件检测可以快速定位故障点,判断元器件是否存在问题,以便进行修复。但是,在进行元器件检测时,需要注意以下几个方面的问题。

2023-06-27 16:29:11
查看详情
元器件检测方法 引脚判断的依据
元器件检测方法 引脚判断的依据

元器件检测是电子工程中非常重要的一环,其中引脚判断是其中的一个关键步骤。引脚判断是通过检测元器件的引脚来判断其类型、功能和性能的方法。下面将介绍一些常见的元器件检测方法和引脚判断的依据。

2023-06-26 16:45:25
查看详情
元器件检测时的注意事项 专业鉴定检验
元器件检测时的注意事项 专业鉴定检验

各种元器件在各行各业得到广泛应用,元器件检测是电子设备制造过程中必不可少的环节,它对于确保设备质量和可靠性至关重要。在元器件检测过程中,需要注意一些事项,以确保检测结果的准确性和可靠性。

2023-06-21 15:10:34
查看详情
ic芯片引脚平面度检测 专注元器件领域
ic芯片引脚平面度检测 专注元器件领域

引脚平面度是指IC芯片引脚与芯片表面之间的平整度,它对IC芯片的电气性能和可靠性有着重要的影响。IC 芯片的成功制造和安装需要严格的质量控制,其中引脚平面度检测是一项关键的技术指标。在这篇文章中,我们将探讨 IC 芯片引脚平面度检测的重要性以及专注元器件领域的检测技术。

2023-06-19 17:11:41
查看详情
DPA检测能测出翻新货吗?元器件检测机构
DPA检测能测出翻新货吗?元器件检测机构

数字信号DPA(Differential Power Analysis)技术是一种用来检测设备DPA(Differential Power Analysis)检测技术是一种通过分析设备或系统的功耗波形来破解加密算法的方法。这种技术越来越受到重视,因为DPA检测是一种用来验证设备和系统是否具有安全性能的技术。它通过获取电流和功率波形,分析这些波形以识别设备中可能存在的漏洞或缺陷。但是,许多人认为,利用DPA技术无法鉴别翻新元器件。那么,DPA技术是否能够检测出翻新元器件呢?

2023-05-17 16:21:16
查看详情
IC外观缺陷智能检测方案 专注元器件检测
IC外观缺陷智能检测方案 专注元器件检测

集成电路(IC)行业的不断发展和普及,对IC外观质量的要求也越来越高。IC外观缺陷会影响芯片的性能和可靠性,因此在生产过程中需要进行严格的质量控制。然而,传统的IC外观缺陷检测方法往往需要大量的人力和时间,且容易出现漏检和误判等问题。为了解决这些问题,越来越多的企业开始采用智能检测技术。

2023-04-07 15:22:16
查看详情
第三方检测中心 电路板上的元器件检测技巧
第三方检测中心 电路板上的元器件检测技巧

电子设备的核心是电路板,而电路板则是由各种类型的电子元器件焊接组装而成,如果设备发生故障或者出现短路,缘由大部分会出现在电子元器件失效或者损坏引起的。因此怎么正确检测电子元器件就显得尤其重要,这也是电子维修人员必须掌握的技能。下面是部分常见电子元器件检测技巧,供大家参考。

2023-02-02 16:00:00
查看详情
电子元器件产品常见筛选方法及选用原则
电子元器件产品常见筛选方法及选用原则

电子元器件应根据产品电性能、可靠性和可制造性要求,对元器件种类、尺寸和封装形式进行选择,尽可能选用常规元器件。确保电子元器件符合设计文件和工艺文件要求,装选用的元器件和印制电路板应与组装过程中所用的工艺材料的特性相兼容。

2022-11-25 16:16:57
查看详情
半导体器件如何检测和筛选 专业第三方检测中心
半导体器件如何检测和筛选 专业第三方检测中心

在半导体电子元器件的筛选中,可靠性筛选不能提高产品的固有可靠性,但是有效的筛选通过发现设计和制造方面所引起的缺陷,反馈到设计、生产的质量控制中去,以便采取纠正措施,真正提高产品的可靠性。要注意质量控制,合理运用元器件的性能参数,发挥电子元器件的功能作用。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-11-10 14:58:13
查看详情
常用的电解电容测试方法有哪些?第三方检测机构
常用的电解电容测试方法有哪些?元器件检测机构

电解电容是电容的一种,金属箔为正极(铝或钽),与正极紧贴金属的氧化膜(氧化铝或五氧化二钽)是电介质,阴极由导电材料、电解质(电解质可以是液体或固体)和其他材料共同组成,因电解质是阴极的主要部分,电解电容因此而得名。同时电解电容正负不可接错。铝电解电容器可以分为四类:引线型铝电解电容器;牛角型铝电解电容器;螺栓式铝电解电容器;固态铝电解电容器。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-11-08 14:40:22
查看详情
1 2 3 4 5 6
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定