服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
恒定湿热测试检测要求和目的
恒定湿热测试检测要求和目的

恒定湿热测试是一种常见的测试方法,用于评估材料在高湿和高温条件下的耐久性和稳定性。这种测试可以模拟真实环境中的高湿热条件,例如热带和亚热带地区的气候,以及某些工业和实验室环境。本文汇总了一些资料,希望能够为读者提供有价值的参考。

2023-09-26 14:03:54
查看详情
元器件DPA检测设备有哪些?
元器件DPA检测设备有哪些?

随着物联网和智能设备的广泛应用,数据的安全性和隐私保护日益受到重视。为了确保设备的安全性,制造商需要采取各种措施来保护其设备免受恶意攻击。其中,元器件DPA检测是一种非常重要的技术,可以帮助制造商检测设备中可能存在的漏洞和安全隐患。那么,元器件DPA检测需要哪些设备呢?

2023-09-26 14:03:44
查看详情
常见湿热试验合格判据有哪些?
常见湿热试验合格判据有哪些?

湿热试验是一种常见的环境试验,用于评估材料和设备在高温高湿条件下的耐久性和稳定性。在湿热试验中,样品暴露在高温高湿的环境中,以模拟现实生产和使用中可能遇到的高温高湿环境,从而评估材料和设备的性能和可靠性。常见的湿热试验包括恒温恒湿试验、循环湿热试验、盐雾试验等。

2023-09-25 17:35:48
查看详情
电子元器件的dpa检测分析
电子元器件的dpa检测分析

电子元器件的DPA(Destructive Physical Analysis)检测分析是一种通过对电子元器件进行物理分析,确定其失效的原因和机理的方法。在现代电子产品中,电子元器件是构成电路的基本组成部分,其失效将会导致整个电路的失效,进而影响整个电子产品的性能和可靠性。因此,对于电子元器件的失效分析和无损检测显得尤为重要。

2023-09-25 17:35:32
查看详情
湿热试验方法及其相关标准
湿热试验方法及其相关标准

湿热试验是一种用于测试材料、产品和设备抗湿热环境的方法。在湿热试验中,样品将被暴露在高温高湿的环境中,以模拟实际应用条件下的湿热环境。元器件湿热试验可以用于评估元器件的耐久性、可靠性和寿命等指标,对于电子产品的设计和制造具有重要意义。

2023-09-22 15:58:41
查看详情
电子元器件做DPA检测的标准
电子元器件做DPA检测的标准

电子元器件DPA(Destructive Physical Analysis)检测是一种通过对电子元器件进行物理分析,确定其失效的原因和机理的方法。与针对整个加密设备进行DPA攻击不同,元器件DPA检测专注于分析单个电子元器件的功耗变化。以下是关于电子元器件DPA检测标准的详细介绍。

2023-09-22 15:58:37
查看详情
元器件DPA常规检测项目及原理
元器件DPA常规检测项目及原理

元器件DPA检测是一种针对单个电子元器件进行的DPA攻击和防御方法。它可以帮助制造商检测设备中可能存在的漏洞和安全隐患,从而提高设备的安全性和可靠性。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2023-09-21 14:03:00
查看详情
电子元器件x-ray检查焊点的标准
电子元器件x-ray检查焊点的标准

电子元器件X-ray检查焊点是电子产品生产和维修过程中的重要步骤,它可以用于检测焊点的质量和可靠性。在进行电子元器件X-ray检查焊点时,需要遵循一定的标准和规范,以确保检查结果的准确性和可靠性。为帮助大家深入了解,以下内容由创芯检测网整理,提供给您参考。

2023-09-21 14:00:00
查看详情
元器件dpa检测规范要求和测试标准
元器件dpa检测规范要求和测试标准

DPA(Destructive Physical Analysis)元器件规范要求和相关测试标准是指对于电子元器件进行破坏性物理分析的一系列规范和标准。在电子元器件的生产和使用过程中,可能会面临各种不同的环境和应力,如高温、低温、湿度、振动等。这些环境和应力可能会对电子元器件产生负面影响,导致元器件失效或性能下降。因此,为了确保电子元器件的可靠性和稳定性,需要进行严格的测试和分析。

2023-09-20 14:26:18
查看详情
翻新元器件如何做DPA检测
翻新元器件如何做DPA检测

随着电子产品的普及和市场的扩大,翻新元器件的应用越来越广泛。翻新元器件的可靠性和性能往往存在一定的问题,因此需要进行DPA(Design for Procurement and Assembly)检测来确保其符合DPA规范。本文将围绕这一话题展开讨论,并介绍翻新元器件如何做DPA检测。

2023-09-20 14:25:48
查看详情
1 2 … 31 32 33 34 35 … 157 158
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定