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机器视觉检测技术:关于芯片外观缺陷检测
机器视觉检测技术:关于芯片外观缺陷检测

随着芯片技术和芯片封装技术的不断革新，芯片面积和封装面积都朝着更小、更轻、更薄化发展，引脚数增多，引脚间距减小，芯片外观检测的难度也不断增加，传统的人工检测方式已经难以满足检测的高要求，也无法适应大批量生产制造。而机器视觉检测芯片外观缺陷与人工检测有着不可比拟的优势：检测速度快，检测精度高，检测效率高，误判率低，更客观可靠，非接触式检测不会对芯片造成接触损伤。

2021-06-08 17:31:37
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