烧录芯片就是芯片作为一种处理器,在工作上需要有程序,来将所有组件小型化至一块或数块集成电路内;一种集成电路,可在其一端或多端接受编码指令,执行此指令并输出描述其状态的信号,而将程序存储到芯片中的这一过程,就被称为芯片烧录。ic烧录需要掌握哪些流程?首先看看ic为什么要烧录呢?


FMECA(Failure Mode Effects and Criticality Analysis),即失效模式影响及危害度分析法。引起系统整体故障、零部件所发生的故障和系统之间存在一定的因果关系。FMECA正是从这种关系出发,通过对系统各部件的每一种可能潜在的故障模式进行分析,找出引发故障的原因,确定故障发生后对系统功能、使用性能、人员安全及维修等的影响,并根据影响的严重程度和故障的出现的概率的综合效应,对每种潜在的故障进行分类,找出关键问题所在,提出可能采取的预防和纠正措施(如针对设计、


芯片制造业的发展关乎着人们的生活方方面面,小到手机、电脑、家电、大到汽车、飞机、军事、通讯国防,都离不开芯片产业的支撑。所以芯片的可靠性尤为重要,由于芯片大都需要全检,所以芯片无损检测尤为重要。根据对产品质量的控制,经常使用X-RAY检测设备进行产品故障分析,其无损检测的特点对检测产品内部缺陷非常有效。那么,IC芯片无损检测哪种方法比较好?


电感是衡量线圈产生电磁感应能力的物理量。给一个线圈通入电流,线圈周围就会产生磁场,线圈就有磁通量通过。通入线圈的电源越大,磁场就越强,通过线圈的磁通量就越大。实验证明,通过线圈的磁通量和通入的电流是成正比的,它们的比值叫做自感系数,也叫做电感。


虚焊、假焊降低产品的可靠性,给生产过程造成不必要的维修、增加生产成本,降低生产效率,给已经出厂的产品造成很大的质量、安全隐患,增加售后维修费用,同时增加客户的不信任感,减少了订单,影响了公司形象。如何判断元器件是否发生虚焊?元器件虚焊一般是什么原因?为帮助大家深入了解,以下内容由创芯检测网整理,提供给您参考。


金属材料在各种工程应用中的失效模式主要由断裂、腐蚀、磨损和变形等。断裂失效分析是从裂纹和断口的宏观、微观特征入手,研究断裂过程和形貌特征与材料性能、显微组织、零件受力状态及环境条件之间的关系,从而揭示断裂失效的原因和规律。下面主要对金属的各种断裂失效分析类型简要分析,供大家参考。


pfema三要素是风险量化评估、列出原因/机理、寻找预防/改善措施。PFMEA:过程(Process)FMEA,用于过程设计中的可靠性分析,分析对象是新的产品/过程、更改的产品/过程。一般在生产工装准备之前开始使用PFMEA,一直到产品正式投产阶段,投产后还要根据生产过程的变化不断地更新PFMEA。为帮助大家深入了解,本文将对产品潜在的失效模式及后果分析的相关知识予以汇总。如果您对本文即将要涉及的内容感兴趣的话,那就继续往下阅读吧。


有的客户量产时反馈烧录不良的情况,这是芯片本身的问题?还是烧录器的问题?或者还有哪些其它可能性呢?为帮助大家深入了解,本文将对IC芯片烧录的相关知识予以汇总。如果您对本文即将要涉及的内容感兴趣的话,那就继续往下阅读吧。


缺芯潮之下,芯片价格水涨船高,有的价格已经让某些人看到了“商机”。面对暴利,芯片仿冒也有了市场,而且仿冒技术的手段也越来越“高明”。一旦市场仿冒芯片进入市场,不仅将给电子产品带来质量问题,而且会让终端制造商和终端消费者面临巨大的风险。


在表面贴装工艺的回流焊接过程中,贴片元件会产生因翘立而脱焊的缺陷,人们形象地称之为“立碑”现象(也有人称之为“曼哈顿”现象)。在SMT工艺中回流焊接也是很重要的一环节,但在实际操作中我们经常会看到有很多小的CHIP元器件特别是贴片电阻会出现贴片元件脱焊竖起了的立碑缺陷。这种“立碑”现象通常也就发生在CHIP元件(如贴片电容和贴片电阻)的回流焊接过程中,元件体积越小越容易发生,比如0603的元件和0402的元件出现的这种现象是最多的,这种现象出现的原因很多种,我们也很难彻底的消除“立碑”现象。但是

