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IC出厂前为什么需要进行HAST加速老化测试?
IC出厂前为什么需要进行HAST加速老化测试?

集成电路(Integrated Circuit,简称IC)是现代电子产品中不可或缺的重要组成部分,而IC的可靠性和稳定性直接影响着电子产品的性能和寿命。为了保证IC的质量和可靠性,出厂前需要进行各种测试和检验,其中加速老化测试(HAST)是一项重要的测试。

2024-01-26 11:14:06
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什么是HAST老化试验?老化测试的目的
什么是HAST老化试验?老化测试的目的

在电子产品加工过程中,都可能会存在明显缺陷和潜在缺陷。老化测试是一种旨在检测产品的可靠性和寿命的测试方法,它主要是通过将产品暴露在模拟环境中,模拟在使用过程中经常会发生的温度、湿度、电压和其他条件下的影响来测试产品的耐久性和可靠性。为帮助大家深入了解,以下内容由创芯检测网整理,提供给您参考。

2023-03-08 15:54:25
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电子元器件做老化测试的重要性
电子元器件做老化测试的重要性

在PCB电路板和元器件生产制造过程中,提高贴片加工的生产效率和良品率尤为重要,为企业降低生产成品,可以提高企业的经济效益。老化测试的目的是为了在最短时间内利用实验室的设备模拟实际运行中绝缘材料在长期工作下其绝缘性能的变化。由此,国外实验研究部门的科学家做了大量的研究和实验探索,最终确定了绝缘材料模拟加速老化实验方法。

2022-11-30 15:28:00
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电子元器件常用的老化筛选方法有哪些?
电子元器件常用的老化筛选方法有哪些?

常规应用最广泛的筛选方法就是老化,让半导体器件在高温、高电压条件下进行超负荷工作,从而使缺陷在短时间内出现。老化也称“老练”,是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加一定的电应力,通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程,促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露,从而达到剔除早期失效产品的目的。

2022-11-09 15:07:21
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电子产品质量检测 电容器老化测试标准和方法
电子产品质量检测 电容器老化测试标准和方法

老化也称“老练”,是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加一定的电应力,通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程,促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露,从而达到剔除早期失效产品的目的。老化测试是电容器保证可靠性水平和质量的筛选方法之一,接下来为您讲解该测试的相关信息。

2022-09-21 16:11:23
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高分子材料的老化试验方法及相关标准
高分子材料的老化试验方法及相关标准

高分子材料用途非常广泛,几乎涉及所有领域、饭盒、塑料袋、仪器设备外壳、电线电缆外套料、汽车保险杠、衣服、薄膜、风力发电机扇叶、齿轮、结构件等等,广泛应用于人们的日常生活中。目前,研究高分子材料的老化试验方法有很多,主要包括气候老化试验,紫外老化试验,臭氧老化试验,热空气老化试验,高低温交变老化试验,湿热老化试验,介质老化试验,盐雾老化试验等。

2022-09-20 15:03:05
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对几种老化测试方法进行比较 产品老化测试目的
对几种老化测试方法进行比较 产品老化测试目的

产品为什么要进行老化测试,其目的是什么?老化测试检测标准可以根据客户指定,无特殊要求即根据国家相应标准进行老化测试检验。老化测试主要是模拟产品在现实使用过程中的各种恶劣条件的高强度测试,同时根据使用的要求,合理地预测产品使用寿命。

2022-08-17 18:24:30
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「检测知识」电子产品老化测试方法及标准
「检测知识」电子产品老化测试方法及标准

在电子产品在加工过程中,由于经历了复杂的加工和元器件物料的大量使用,无论是加工缺陷还是元器件缺陷,都可分为明显缺陷和潜在缺陷,明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷,例如短路/断路而潜在缺陷导致产品暂时可以使用,但在使用中缺陷会很快暴露出来,产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现,而是运用老化的方法来剔除。如果老化方法效果不好,则未被剔除的潜在缺陷将最终在产品运行期间以早期失效(或故障)的形式表现出来,从而导致产品返修率上升,维修成本增加。

2022-04-29 13:52:25
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陶瓷电容器的介质老化与防老化详解
陶瓷电容器的介质老化与防老化详解

陶瓷电容器(ceramic capacitor)以电子陶瓷为介质材料,具有使用温度高,比容量大,耐潮湿性好,介质损耗较小,电容温度系数可在大范围内选择等优点,在电子电路中应用广泛。但随时间延长,陶瓷电容器会出现介质老化现象,使用时须引起注意。

2022-04-22 16:40:11
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工厂怎样检测电子元器件老化?电子元器件检测哪家公司强
工厂怎样检测电子元器件老化?电子元器件检测哪家公司强

工厂怎样检测电子元器件老化?老化也称“老练”,是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加一定的电应力,通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程,促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露,从而达到剔除早期失效产品的目的。

2022-04-18 15:04:31
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