
可焊性测试,英文是“Solderability”。指通过润湿平衡法(wettingbalance)这一原理对元器件、PCB板、PAD、焊料和助焊剂等的可焊接性能做一定性和定量的评估。对现代电子工业的1级(IC封装)和2级(电子元器件组装到印刷线路板)的工艺都需要高质量的互通连接技术,以及高质量和零缺陷的焊接工艺有极大的帮助。


一般来说为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验,通过可靠性试验,可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量,为使用、生产和设计提供有用的数据;也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。


1、低温试验 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温GB/T2423.1-2008,IEC60068-2-1:2007 2、高温试验 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温GB/T2423.2-2008 ,IEC60068-2-2:2007


高低温交变湿热试验箱的使用环境条件如下: 1、温度:15℃~35℃ 2、相对湿度:不大于85%RH 3、附近无强烈振动、无强烈电磁场影响 4、附近无高浓度粉尘及侵蚀性物质 5、无阳光直接照射或其它热源直接辐射 6、附近无强烈气流,当附近空气需要强制流 时,气流不应直接吹到箱体上。


芯片在出厂前需要进行环境测试,模拟芯片在气候环境下操作及储存的适应性,已确保其在极端环境下也可正常工作。高低温测试是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性的方法。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。


高低温测试又叫作高低温循环测试,是环境可靠性测试中的一项,试验目的是评价高低温条件对装备在存储和工作期间的性能影响。基本上所有的产品都是在一定的温度环境下存储保存,或者工作运行。


集成电路版图设计就是指将电路设计电路图或电路描述语言映射到物理描述层面,从而可以将设计好的电路映射到晶圆上生产。版图是包含集成电路的器件类型,器件尺寸,器件之间的相对位置以及各个器件之间的连接关系等相关物理信息的图形,这些图形由位于不同绘图层上的图形构成。集成电路设计方法涉及面广,内容复杂,其中版图设计是集成电路物理实现的基础技术。


集成电路的电路设计中提高可靠性的基本原则是把对器件的要求与具体工艺情况结合起来,因此熟悉工艺特点是搞好设计的基础。在电路设计中可以采取以下一些措施来提高集成电路的可靠性:


可靠性试验一般可分为工程试验与统计试验。工程试验的目的是暴露产品在设计、工艺、元器件、原材料等方面存在的缺陷、薄弱环节和故障,为提高产品可靠性提供信息。统计试验的目的是验证产品是否达到了规定的可靠性或寿命要求。下面给大家整理汇总的常用军民品可靠性试验标准清单如下,希望对您有所帮助。

