行业资讯 - 深圳市创芯在线检测服务有限公司

使用X射线检查设备来检测IC芯片的原因主要包括以下几点：

2024-09-02 14:00:00

HASS（Highly Accelerated Stress Screening）测试是一种加速老化测试方法，旨在通过施加高于正常工作条件的应力来快速识别产品中的潜在缺陷和失效模式。HASS测试通常用于电子和电气产品的可靠性验证，以确保在正常使用条件下的长期可靠性。

2024-08-30 11:30:00

电路板在高低温环境下的试验是确保其性能和可靠性的重要步骤。以下是电路板高低温试验的方法及注意事项。

2024-08-30 11:00:00

声学扫描显微镜（Acoustic Scanning Microscopy, ASM）是一种利用声波进行高分辨率成像的技术，广泛应用于材料科学、生物医学等领域。以下是声学扫描显微镜检查的重要性：

2024-08-29 15:00:00

金属材料的耐蚀测试是评估其在腐蚀环境中性能的重要手段。以下是耐蚀测试的重要性和应用领域的详细介绍。

2024-08-29 14:00:00

芯片老化测试（或称为加速老化测试）是评估集成电路（IC）在长时间使用后性能和可靠性的重要手段。以下是芯片老化测试的目的及其重要性。

2024-08-28 15:00:00

元器件的防尘防水性能测试是评估其在恶劣环境条件下可靠性的关键环节。以下是关于防尘防水性能测试的介绍，包括测试标准、方法和重要性。

2024-08-28 14:00:00

集成电路（IC）的测试方法是确保其性能、可靠性和功能的重要环节。以下是常用的测试方法及其重要性：

2024-08-27 15:00:00

元器件装配质量控制与检验是确保电子产品性能和可靠性的重要环节。以下是常用的质量控制和检验方法：

2024-08-27 14:00:00

芯片失效分析是指对集成电路（IC）在使用过程中出现的故障进行系统性调查和分析，以确定故障原因并提供改进建议。常用的失效分析手段和流程如下：

2024-08-26 15:00:00

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