
芯片一般是不会坏的,如果坏的话最常见的也是击穿损坏,你可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压,一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低,大部分可以视为击穿损坏了,可以断开供电端,单独测量一下供电是否正常。如果测得的电阻较大,那很可能是其他端口损坏,也可以逐一测量一下其他端口。看是否有对地短路的端口。


芯片其实是集成电路的聚集地。一个芯片拥有成千上万的集成晶格组成。但具体的芯片集成度的高低与密集是由芯片的功能与作用而决定的。 IC芯片损坏这种现象也是存在的,但前提条件是给芯片供电电源太高,或电流过大,都会导致芯片内部电路由于超过其极限工作电流电压而导致芯片损坏。


现代5G、车联网等技术的飞速发展,信号的传输速度越来越快,集成电路芯片的供电电压随之越来越小。早期芯片的供电通常是5V和3.3V,而现在高速IC的供电电压已经到了2.5V、1.8V或1.5V,有的芯片的核电压甚至到了1V。芯片的供电电压越小,电压波动的容忍度也变得越苛刻。芯片该怎么测量电压呢?


对于电子制造企业来说,电子产品生产是一项重要内容,质控体系的构建必须要重视电子产品生产过程中质量控制,以切实优化生产工艺,提升电子产品生产质量,保证电子产品的实用价值,这对于企业的建设以及社会经济的发展也具有重要意义。由于电子产品的生产过程比较复杂,涉及的影响因素非常多,所以必须实时监控电子产品的生产条件,对现有的生产过程的质量管理及控制方法进行完善,确保生产出合格的电子产品,为人们的生活提供更多便利。


近日,华为传来好消息,经过技术人员的不懈努力,华为在芯片检测技术上取得进展,并公开了“一种检测芯片裂缝的装置”专利,公开号为 CN113748495A。


如今检验检测行业,涉及产品质量控制、环境监测、食品安全和工程建设等众多事关国计民生的重要领域,覆盖了几乎所有国民经济行业,贯穿于社会经济活动从研发、生产直至消费的全过程。芯片第三方检测机构在以工业化发展为前提条件下,一步步迈入了经济发展的大环境中,成为了保有量较高的高新行业。


电源管理芯片广泛应用于家用电器、手机及平板等、工控设备等多领域,是所有电子设备的电能供应心脏。掌控着电子设备的脉搏——电能,负责电能变换、分配、检测等功能,一旦其失效将直接导致电子设备停止工作甚至损毁,是电子设备中很关键的器件。要是电源芯片在电路中出现了损坏,就会导致电子设备停止工作,关于ic电子的检测鉴别,下面一起来了解下电源电路中电源芯片的好坏测量方法。


现阶段,市场只关心我们能不能造出来芯片。但随着芯片行业的成熟,市场未来的关注点势必会调整至我们能不能高效的制造芯片。虽然测试的市场份额仅占整个芯片制造产业链的6%,但其仍是一个十分重要的行业,甚至直接关乎芯片成品的品质,稍有不慎就会造成无法估量的后果。对于一款产品而言,或许在上市初期市场更关注它的性能,但从长期来看,决定产品长期价值的依然还是品质。


芯片开盖(Decap)又称芯片开封或者芯片开帽,是芯片常用的一种失效分析时检测方法。通常,数据手册可以提供芯片的很多信息。若想要设计可靠、低功耗、高性能的芯片产品,就不能停留在数据手册上,需要深入研究集成电路内部的工作原理,其制造工艺与其性能的关系,并且具有一定的分析集成电路的能力。


半导体芯片ic很敏感,所以测试的时候要注意不要引起引脚之间的短路,任何一瞬间的短路都能被捕捉到,从而造成集成电路烧坏。其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。检测之前要做的工作就是要充分了解集成电路的工作原理。要熟悉它的内部电路,主要参数指标,各个引出线的作用及其正常电压。

