超声波扫描SAT与X-Ray有什么区别？ 在同一实验室内，SAT与X-Ray是相互补充的方法手段，它们主要的区别在于展现样品的特性不同： X-Ray能观察样品的内部，主要是基于材料密度的差异。X-Ray对于分层的空气不是非常的敏感，裂纹和虚焊难以通过X-Ray被观察到，除非材料有足够的物理上的分离。

2024-05-11 11:43:16

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高低温环境试验是一种常见的测试方法，用于评估产品在极端温度条件下的性能和可靠性。这种试验可以帮助制造商确定产品在极寒或极热环境中的适用性，并识别潜在的问题和设计缺陷。本文将介绍高低温环境试验的种类、影响和摆放要求。

2024-05-11 11:00:00

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在当今高科技时代，芯片已经成为几乎所有电子设备的核心。随着芯片的复杂性不断增加，如何确保其性能的可靠性成为了一个关键问题。下面我们将探讨几种确保芯片性能可靠性的重要方法。

2024-05-10 13:32:22

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冷热冲击试验箱（又名高低温冲击试验箱）是一种用于测试产品耐受能力的设备，通过不断变换温度，检测产品是否出现受损情况，产生的热效应和冷却效应都会模拟各种极端场景中的气候变化。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障，试验的严苛程度取决于高低温范围、驻留时间、温度转换时间、循环数等因素。 那么使用高低温冲击试验箱需要注意什么呢？

2024-05-10 13:32:17

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HAST高加速寿命测试是一种通过模拟恶劣环境条件来评估产品可靠性的重要工具。这种测试方法通过施加高温、高湿和高压的条件，加速产品的老化过程，从而在短时间内检测产品的性能和耐久性。在当今竞争激烈的市场中，产品的可靠性已经成为消费者选择的重要因素。因此，HAST高加速寿命测试成为了许多行业不可或缺的测试手段。

2024-05-09 14:58:55

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在电力电子领域，IGBT（绝缘栅双极型晶体管）芯片扮演着至关重要的角色，其在各种功率电子设备中的应用广泛。为了确保IGBT芯片的可靠性和稳定性，在其设计和制造过程中需要进行严格的测试，其中冷热冲击测试是至关重要的环节之一。冷热冲击测试旨在模拟IGBT芯片在实际应用中可能遇到的极端温度变化情况，从而评估其在各种环境条件下的性能和可靠性。

2024-05-08 13:58:50

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HAST高加速寿命测试，是通过对样品施加高温高湿以及高压的方式，实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验，用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。

2024-05-08 13:58:35

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汽车作为集先进机械与电子技术于一体的产品，其安全性、稳定性和可靠性无疑是核心要素。车规级芯片，作为汽车的“心脏”，其性能直接牵动着汽车的整体性能表现。因此，对车规级芯片进行全面且严格的测试，不仅是确保汽车质量的必要手段，更是保障行车安全的关键环节。

2024-05-07 15:15:52

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随着信息技术的飞速发展，集成电路（IC）芯片已经成为现代科技产品的核心部件，其性能、质量和可靠性直接影响着整个系统的运行效果。由于IC芯片的微型化和复杂化趋势，传统的检测手段已无法满足对内部结构与缺陷的精确识别需求。此时，X-ray检测设备作为一种非破坏性且高效的检测技术应运而生，成为IC芯片质量控制的重要工具。

2024-05-07 15:15:43

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随着汽车技术的飞速发展，车规级芯片的高低温测试变得尤为重要。这些芯片承载着汽车系统的核心功能，如自动驾驶、车载娱乐和车辆网络连接。但是在极端的温度条件下，这些芯片可能会遇到各种挑战，包括性能降低、稳定性问题甚至是故障。因此，对车规级芯片进行全面的高低温测试是确保汽车系统安全可靠运行的关键一步。

2024-05-06 14:07:28

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