服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
加速寿命测试:产品可靠性的关键评估
加速寿命测试:产品可靠性的关键评估

HAST高加速寿命测试是一种通过模拟恶劣环境条件来评估产品可靠性的重要工具。这种测试方法通过施加高温、高湿和高压的条件,加速产品的老化过程,从而在短时间内检测产品的性能和耐久性。在当今竞争激烈的市场中,产品的可靠性已经成为消费者选择的重要因素。因此,HAST高加速寿命测试成为了许多行业不可或缺的测试手段。

2024-05-09 14:58:55
查看详情
IGBT芯片的冷热冲击测试要点
IGBT芯片的冷热冲击测试要点

在电力电子领域,IGBT(绝缘栅双极型晶体管)芯片扮演着至关重要的角色,其在各种功率电子设备中的应用广泛。为了确保IGBT芯片的可靠性和稳定性,在其设计和制造过程中需要进行严格的测试,其中冷热冲击测试是至关重要的环节之一。冷热冲击测试旨在模拟IGBT芯片在实际应用中可能遇到的极端温度变化情况,从而评估其在各种环境条件下的性能和可靠性。

2024-05-08 13:58:50
查看详情
HAST高加速寿命测试的流程步骤
HAST高加速寿命测试的流程步骤

HAST高加速寿命测试,是通过对样品施加高温高湿以及高压的方式,实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验,用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。

2024-05-08 13:58:35
查看详情
对车规级芯片测试现状及必要性的分析
对车规级芯片测试现状及必要性的分析

汽车作为集先进机械与电子技术于一体的产品,其安全性、稳定性和可靠性无疑是核心要素。车规级芯片,作为汽车的“心脏”,其性能直接牵动着汽车的整体性能表现。因此,对车规级芯片进行全面且严格的测试,不仅是确保汽车质量的必要手段,更是保障行车安全的关键环节。

2024-05-07 15:15:52
查看详情
为何需要使用X射线检查设备来检测IC芯片?
为何需要使用X射线检查设备来检测IC芯片?

随着信息技术的飞速发展,集成电路(IC)芯片已经成为现代科技产品的核心部件,其性能、质量和可靠性直接影响着整个系统的运行效果。由于IC芯片的微型化和复杂化趋势,传统的检测手段已无法满足对内部结构与缺陷的精确识别需求。此时,X-ray检测设备作为一种非破坏性且高效的检测技术应运而生,成为IC芯片质量控制的重要工具。

2024-05-07 15:15:43
查看详情
车规级芯片的高低温测试 第三方鉴定机构
车规级芯片的高低温测试 第三方鉴定机构

随着汽车技术的飞速发展,车规级芯片的高低温测试变得尤为重要。这些芯片承载着汽车系统的核心功能,如自动驾驶、车载娱乐和车辆网络连接。但是在极端的温度条件下,这些芯片可能会遇到各种挑战,包括性能降低、稳定性问题甚至是故障。因此,对车规级芯片进行全面的高低温测试是确保汽车系统安全可靠运行的关键一步。

2024-05-06 14:07:28
查看详情
HASS测试是什么?适用于哪些产品?
HASS测试是什么?适用于哪些产品?

HASS(Highly Accelerated Stress Screening)测试是一种用于加速发现和排除制造缺陷的方法。它是一项非常有效的质量保证工具,被广泛应用于各种行业,包括电子、航空航天和汽车制造业。本文将介绍HASS测试的概念、流程以及其在各行业中的重要性。

2024-05-06 14:07:20
查看详情
可靠性试验包括哪些?IC芯片器件检测
可靠性试验包括哪些?IC芯片器件检测

可靠性试验是评估电子器件在特定环境条件下的性能和可靠性的过程。对于IC芯片器件来说,可靠性测试尤为重要,因为它们被广泛应用于各种关键系统,如汽车、航空航天、医疗设备等。在进行IC芯片器件的可靠性测试时,通常涉及以下几个方面:

2024-04-29 10:13:56
查看详情
电容器放电试验测试介绍
电容器放电试验测试介绍

电容器放电试验是检验电容器性能的重要测试之一,通过放电试验可以确定电容器在放电过程中的性能表现,进一步评估其质量、可靠性及安全性。以下是进行电容器放电试验测试的步骤:

2024-04-29 10:13:23
查看详情
IGBT芯片冷热冲击测试项目有哪些?
IGBT芯片冷热冲击测试项目有哪些?

芯片测试几乎都离不开温度冲击试验,IGBT芯片更是要经过无数次的可靠性试验才能保证安全高效的投放使用,IGBT需要用温度冲击试验机做一些环境可靠性试验。

2024-04-28 10:52:34
查看详情
1 2 … 17 18 19 20 21 … 156 157
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了?在多少温度下会损坏
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

粤ICP备2023133780号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询 在线咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定