编程烧录:芯片烧录速度与哪些因素有关?

日期:2021-09-15 18:19:43 浏览量:2481 标签: 编程烧录 芯片烧录

所谓烧录其实就是往里写代码或数据,需要用特定的软件、特定的硬件,数据格式一般也特定。芯片烧录是电子产品生产环节中的重要一环,烧录时可能会遇到部分芯片烧录速度过慢的问题,影响生产效率,这也是客户关注的重要方面。烧录的效率离不开芯片的烧录速度,芯片烧录速度与哪些因素有关呢?接下来一起看看吧!

1、不同厂商的芯片

芯片厂商的差异会导致芯片制造的工艺之间会有差异。不同厂家生产的同一类别芯片在烧录时存在效率上的差异是因为不同厂家的生产工艺差异造成芯片写入速度存在一定的不同,从而影响芯片烧录速度。这样也会直接导致芯片烧录速度的差异。

2、烧录程序的大小,而不是芯片大小

对于同一款产品来说,芯片容量的不同,芯片的烧录时间会不会有很明显的差异呢?容量越大,芯片的烧录时间也会越大?在芯片测试中,容量大的芯片,不一定烧录时间长。比如同时烧录8MB容量芯片和16MB容量芯片,在烧录同一个程序的时候(文件小于8MB),时间是差不多的。

编程烧录:芯片烧录速度与哪些因素有关?

3、芯片的烧录方式

对于不同品牌,不同种类芯片,会有多种的烧录方式,JTAG接口明显比UART接口烧录速度快。例如有些MCU芯片,有提供JTAG接口进行烧录,但同时也有提供UART接口对芯片进行烧录,JTAG接口明显比UART接口烧录速度快。还有一些SPI Flash提供单线烧录方式以及四线烧录方式。

4、烧录器本身的硬件差异

烧录器的硬件特性对芯片的烧录速度还是有明显的影响的。在实际的测试过程中,不同的烧录器,对于同一款芯片的烧录,烧录时间会相差到一半以上。

5、烧录器通道的差异问题

通道越多,同时可烧录芯片越多,烧录效率越高。现有的烧录器有一拖一的单通道烧录器,也有一拖几的多通道烧录器。当客户需要大批量烧录芯片的时候,一般都会选择多通道烧录器,因为这样可以很明显的提高效率。拿单通道烧录器和八通道烧录器来比较,单从烧录时间来说的话,单通道烧录器使用时间是八通道烧录器的八倍,也就是说改用八通道烧录器的话效率一下会提高八倍!

结语:芯片烧录速度受到芯片本身、烧录器速度等各方面的影响,如果希望快速的烧录芯片,请选择合适的方式以及合适的烧录器。

相关阅读
五月芯资讯回顾:原厂涨价函不断,疫情影响供应链

刚刚过去的五月,全球多地疫情反弹,大宗商品涨价延续,IC产业链毫无意外,缺货涨价仍是主旋律。下面就来梳理一下过去的一个月,业内都有哪些值得关注的热点。

2021-06-04 11:16:00
查看详情
马来西亚管控延长,被动元件又悬了?

自五月以来,马来西亚疫情不断升温,每日新增确诊高峰曾突破9000例。严峻形势之下,马来西亚政府于6月1日开始执行为期半个月的全面行动管制。在这之后,每日新增病例呈现下降趋势。

2021-06-18 15:41:07
查看详情
内存市场翻转,涨价来袭!

据媒体近日报道,内存正在重回涨价模式,从去年12月到今年1月,涨幅最多的品种已达30%。据行情网站数据,各类内存条、内存颗粒在12月上旬起开始涨价,至今仍没有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看详情
被动元件涨价启动,MLCC和芯片打头阵

据台媒近日报道,MLCC两大原厂三星电机和TDK近期对一线组装厂客户发出通知,强调高容MLCC供货紧张,即将对其调涨报价。在芯片电阻市场,台厂国巨正式宣布从三月起涨价15-25%。紧接着,华新科也对代理商发出涨价通知,新订单将调涨10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看详情
深圳福田海关查获大批侵权电路板,共计超过39万个

据海关总署微信平台“海关发布”10日发布的消息,经品牌权利人确认,深圳海关所属福田海关此前在货运出口渠道查获的一批共计391500个印刷电路板,侵犯了UL公司的“RU”商标专用权。

2021-03-05 11:12:00
查看详情
可靠性测试:常规的可靠性项目及类型介绍

可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的,可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验,通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验,一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。

2021-04-26 16:17:00
查看详情
产品进行可靠性测试的重要性及目的

产品在一定时间或条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。可通过可靠度、失效率还有平均无故障间隔等来评价产品的可靠性。而且这是一项重要的质量指标,只是定性描述就显得不够,必须使之数量化,这样才能进行精确的描述和比较。

2021-04-26 16:19:00
查看详情
汇总:半导体失效分析测试的详细步骤

失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。 常见的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因为失效分析设备昂贵,大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备,因此借用外力,使用对外开放的资源,来完成自己的分析也是一种很好的选择。我们选择去外面测试时需要准备的信息有哪些呢?下面为大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看详情
芯片常用失效分析手段和流程

一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。芯片失效分析的常用方法不外乎那几个流程,最重要的还是要借助于各种先进精确的电子仪器。以下内容主要从这两个方面阐述,希望对大家有所帮助。

2021-04-26 16:41:00
查看详情
值得借鉴!PCB板可靠性测试方法分享

PCB电路板是电子元件的基础和高速公路,又称印刷电路板,是电子元器件电气连接的提供者。它的发展已有100多年的历史了;它的设计主要是版图设计;采用电路板的主要优点是大大减少布线和装配的差错,提高了自动化水平和生产劳动率。PCB的质量非常关键,要检查PCB的质量,必须进行多项可靠性测试。这篇文章就是对测试的介绍,一起来看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看详情