无损检测技术中X-RAY检测芯片快速精准效率高

日期:2021-09-08 11:28:00 浏览量:1920 标签: X-射线检测 无损检测 X-Ray检测

现在,随着人们对电子产品质量和可靠性要求的不断提高,对芯片的品质要求也越来越高。芯片在研制、生产和使用过程中失效不可避免,因此,芯片检测分析工作也显得越来越重要。由于伪造的电子元件的外观变得越来越逼真,肉眼无法分辨。也是在这个时候出现了X-RAY测试设备。与传统的破坏性物理分析和故障分析相比,X-RAY的优势在于及时性,成本和专业性。它们具有明显的优势。

目前市面上主流无损检测方法主要有AOI、超声波及X-RAY检测。AOI是对产品的外观进行检测,不能对产品的内部进行检测;超声波检测虽然属于无损检测,但它的弊端是无法对检测结果进行更好的保存,且对操作人员要求较高;X-RAY无损检测将前面的两种检测方式的弊端进行了完美的攻克,不仅能够对产品的内部缺陷进行检测,而且还可以把产品的分析以影像的形式进行保存,这种检测方式对于后期的数据分析、比对起到了十分关键的作用,且设备操作简单,结果准确。

无损检测技术中X-RAY检测芯片快速精准效率高

由于国家相关职能部门对于电子产品质量的检测把关越来越严格,因此,对芯片检测行之有效的X-RAY无损检测设备也得到了更加广泛的应用。从事相关行业X射线无损检测的业内人士指出:X射线检测设备具有无损,使用方便,检测精度高等一系列优点。通过检测设备,可以很好地检测电子元件的内部状态,甚至可以检测电子设备的角度,电流,电压和图像。 X射线管可以通过。为了基于对比度和亮度获得相应的有效图像信息,可以将其与常规原始产品进行很好的比较,从而可以轻松识别组件的真实性。

现在,随着各种智能终端设备的兴起,人们对电子产品质量和可靠性的要求不断提高,对芯片质量的要求也越来越高。在开发,生产和使用过程中,芯片故障是不可避免的。因此,芯片检查和分析工作变得越来越重要。电子制造商已采用成熟的技术进行芯片测试。通过分析,它可以帮助设计人员发现芯片设计中的缺陷,工艺参数不匹配或设计和操作不当。这需要使用芯片测试设备X-RAY设备,就再也不用为芯片的内部缺陷检测担忧了。


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