电子产品低温测试: 元器件通常在低温多久失效？
日期：2021-07-26 13:46:00 浏览量：4386 标签: 低温试验 新产品开发测试（FT） 低温测试 元器件失效
低温测试介绍：
GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温试验
本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热里两类试验样品.本标准仅限于用来考核确定电工,电子产品(包括元件,设备及其他产品)在低温环境条件下贮存和使用的环境适应性。
元器件通常在低温多久失效？电子元器件大都有个使用温度范围的，超过这个范围就会失效或性能降低，一般民用级是0~70℃，工业级是：-40~85℃，军用级是：-55~128℃。这是因为指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，温度的改变对半导体的导电能力、极限电压、极限电流以及开关特性等都有很大的影响。而现在一个芯片往往包含了数百万甚至上千万个晶体管以及其他元器件，每一点小小的偏差的累加可能造成半导体外部特性的巨大影响。如果温度过低，往往会造成芯片在额定工作电压下无法打开其内部的半导体开关，导致其不能正常工作。
低温试验不能用来考核试验样品对温度变化的耐抗性和在温度变化期间的工作能力,在这种情况下,应选择温度变化试验方法.
非散热试验样品的低温试验:温度突变和温度渐变试验2种类型;
散热试验样品的低温试验: 温度渐变试验一种类型.
本试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品.试验持续时间从试验样品温度达到稳定时开始计算.在特殊情况下,如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定,则试验持续时间从试验箱达到规定试验温度时开始计算。
低温试验条件：
非散热试验样品温度突变或温度渐变的低温试验严酷等级的选择:
65℃、55℃、40℃、25℃、10℃、-5℃、5℃
温度范围可以正负偏差3度,试验的持续时间一般有:2h,16h,72h,96h.或根据产品自身的使用环境选择试验时间。若试验目的仅仅是检查试验样品在低温时是否正常工作，则试验的时间只限于使样品温度达到稳定。
低温测试湿度范围：
电子产品一般是高温高湿，温度交变。低温一般是做到-10℃高温看产品60℃，80℃的都有。湿度一般是80的湿度。
低温试验设备：
低温试验箱可以用来考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在高低温环境条件下贮存和使用的适应性，适用于学校，工厂，军工，研位，等单位。
符合标准：低温试验设备满足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001等国家标准。
低温试验标准常规的检测标准如下：
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007
包装 运输包装件基本试验 第2部分：温湿度调节处理GB/T 4857.2－2005/ISO 2233:2000
汽车电气设备基本技术条件QC/T 413-2002
军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-2009
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用电子测试设备通用规范 GJB3947A-2009
舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-1983
舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-1983
轨道交通 机车车辆电子装置 GB/T 25119-2010/IEC 60571：2006
电子测量仪器通用规范 GB/T 6587-2012
铁路地面信号产品高温及低温试验方法TB/T 2953-1999
