说起电子元器件大家应该都不会陌生,那电子元器件的可靠性呢?电子元器件的可靠性是影响产品可靠性的一个重要因素。工程师在电路设计中需要对电子元器件选型,这其中必不可少的一部分就是电子元器件的可靠性,而电子元器件固有可靠性就是其中最容易忽略的,所以要想保证产品的可靠性就必须要保证电子元器件的可靠性。
可靠性项目的发展可以推动和促进产品的设计、制造、使用、材料、工艺、设备和管理的发展,将电子元件和其他电子产品提高到一个新的水平。通过可靠性试验,可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量,为使用、生产和设计提供有用的数据;也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。通过失效分析、质量控制等一系列反馈措施,可使产品存在的问题逐步解决,提高产品可靠性。
什么是UV测试?UV测试又称UV老化测试,是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程,它可以再现阳光、雨水和露水所产生的破坏,短时间内得到产品的使用寿命。设备通过将待测材料曝露在经过控制的阳光和湿气的交互循环中,同时提高温度的方式来进行试验。
可靠性试验,是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下,找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种试验的总称。主要是为预测从产品出厂到其使用寿命结束期间的质量情况,选定与市场环境相似度较高的环境应力后,设定环境应力程度与施加的时间,主要目的是尽可能在短时间内,正确评估产品可靠性。
随着汽车产业的发展,车身控制电子、娱乐多媒体电子、导航及车载通信等电子部件越来越多,使车辆复杂程度不断加大,而且汽车使用的环境特别严酷,例如:各种各样的气候环境、污染越来越严重的大气环境、颠簸复杂的路面及各种各样的无线电干扰,都在考验着汽车电子产品的可靠性。
跌落试验通常是主要用来模拟产品在搬运期间可能受到的自由跌落,考察产品抗意外冲击的能力分为包装跌落和裸机跌落。裸机跌落主要考量产品在正常使用过程中抗意外跌落冲击的能力。包装跌落也可以反映包装件在受到垂直跌落时候的对产品的保护能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准,落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。
常用的可靠性设计原则和方法有元器件选择和控制、热设计、简化设计、降额设计、冗余和容错设计、环境防护设计、健壮设计和人为因素设计等。除了元器件选择和控制、热设计主要用于电子产品的可靠性设计外,其余的设计原则及方法均适用于电子产品和机械产品的可靠性设计。
断口分析是研究金属断裂面的学科,是断裂学科的组成部分。金属破断后获得的一对相互匹配的断裂表面及其外观形貌,称之为断口。金属断口是质量鉴定中常见的鉴定项目,通过对断口进行分析,可以很好地帮助我们对电子产品质量进行全面的分析。那么检测金属材料断口分析方法有哪些呢?
电子元器件外观缺陷检测是非常关键的一环,由于此类产品一般比较小,对质量的要求又高,很难通过人工大批量检测,需要利用电子元器件视觉检测设备来进行外观缺陷自动化检测。采用外观设备检测的方法可以对缺陷进行实时检测,快速且准确的识别划痕,大幅提高了产线的生产效率,提高了产品的生产质量。
芯片质量好坏主要是由市场,性能和可靠性三要素决定的。首先,在芯片的开发前期,需要对市场进行充分调研,才能定义出符合客户需求的SPEC;其次是性能,IC设计工程师设计出来的电路需要通过designer仿真,DFT电路验证,实验室样品评估,及样品出货前的FT,才能认为性能符合前期定义的要求;最后是可靠性,由于经过测试的芯片只能保证客户在刚拿到样品的时候是好的,所以还需要进行一系列应力测试,模拟客户端一些严苛使用条件对芯片的冲击,以评估芯片的寿命及可能存在的质量风险。