芯片的好坏主要是由市场，性能和可靠性三要素决定的。首先，在芯片的开发前期，需要对市场进行充分调研，才能定义出符合客户需求的SPEC；其次是性能，IC设计工程师设计出来的电路需要通过designer仿真，DFT电路验证，实验室样品评估，及样品出货前的FT，才能认为性能符合前期定义的要求；最后是可靠性，由于经过测试的芯片只能保证客户在刚拿到样品的时候是好的，所以还需要进行一系列应力测试，模拟客户端一些严苛使用条件对芯片的冲击，以评估芯片的寿命及可能存在的质量风险。
可靠度技术概念
可靠度是产品以标准技术条件下，在特定时间内展现特定功能的能力，可靠度是量测失效的可能性，失效的比率，以及产品的可修护性。根据产品的技术规范以及客户的要求，我们可以执行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同规范的可靠度的测试。
测试机台种类
高温贮存试验 (HTST, High Temperature Storage test)
低温贮存试验(LTST, Low Temperature Storage test)
温湿度贮存试验 (THST, Temperature & Humidity Storage test)
温湿度偏压试验 (THB, Temperature & Humidity with bias test)
高温水蒸汽压力试验 (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)
高加速温湿度试验 (HAST, Highly Accelerated Stress test )
温度循环试验 (TCT, Temperature Cycling test)
温度冲击试验 (TST, Thermal Shock test )
高温寿命试验 (HTOL, High Temperature Operation Life test )
高温偏压试验 (BLT, Bias Life test)
回焊炉 (Reflow Test)
_20220107133937_561.jpg "电子产品测试机构:可靠性测试芯片的方法")
技术原理
可靠性可以定义为产品在特定的使用环境条件下，在既定的时间内，执行特定功能,成功达成工作目标的机率。对于可靠性最直接影响的环境因子有，温度变化、温度、湿度、机械应力、电压…等等。可靠性测试主要针对组件在各种环境下进行实验，以加速各组件老化及发生失效现象，进而达到改善设计、材料或是制程参数的目的。
环境测试(Environment Test)
高温贮存试验(High Temperature Storage Test) : 在高温的状态下,使组件加速老化。可使电气性能稳定,以及侦测表面与结合缺陷。
低温贮存试验(Low Temperature Storage Test) : 在极低的温度下，利用膨胀收缩造成机械变型。对组件结构上造成脆化而引发的裂痕。
温湿度贮存试验(Temperature Humidity Storage Test) : 以高温潮湿的环境,加速化学反应造成腐蚀现象。测试组件的抗蚀性。
高温水蒸汽压力试验(Pressure Cook Test)/高加速温湿度试验(High Acclerate Stress Test) : 与温湿度贮存试验原理相同，不同地方是在加湿过程中,压力大于大气压力，更加速了腐蚀速度，引发出封装不良的产品,内部因此而腐蚀。
温度循环试验(Temperature Cycling Test) : 使零件冷热交替几个循环，利用膨胀系数的差异，造成对组件的影响。可用来剔除因晶粒﹑打线及封装等受温度变化而失效之零件。
温度冲击试验(Thermal shock Test) : 基本上跟温度循环试验原理一样，差异是加快温度变化速度。测定电子零件曝露于极端高低温情况下之抗力,可以侦测包装密封﹑晶粒结合﹑打线结合﹑基体裂缝等缺陷。
高温寿命试验(High Temperature Operating Life Test) : 利用高温及电压加速的方法，在高温下加速老化，再外加讯号进去，仿真组件执行其功能的状态。藉短时间的实验,来评估IC产品的长时间操作寿命。
前处里(Precondition Test) 对零件执行功能量测﹑外观检查﹑超音波扫瞄(SAT) ﹑温度循环(Temperature Cycling ) ﹑烘烤(Bake )浸湿( Moisture Soak )等程序。仿真组件在开始使用前所经历的运输、储存、回焊等变化做为其它可靠性试验之前置处理。
运送测试（Transportation Test）
震动测试(Vibration Test)：仿真地面运输或产品操作使用时,所产生的震动环境。将构装组件结构内原有的缺陷，经由震动行为加速缺陷的劣化状况，进而导致组件机制失效。
机械冲击测试(Mechanical Shock Test)：将试件在一定的高度上,沿斜滑轨下滑与底部的障碍物相撞,而产生冲击。
可靠性已经列为产品的重要质量指标加以考核和检验。长期以来，人们只用产品的技术性能指标作为衡量电子元器件质量好坏的标志，这只反映了产品质量好坏的一个方面，还不能反映产品质量的全貌。因为，如果产品不可靠，即使其技术性能再好也得不到发挥。从某种意义上说，可靠性可以综合反映产品的质量。我们的检测服务范围包括：电子元器件测试验证、IC真假鉴别产品设计选料、失效分析，功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。热忱欢迎来电，我们将竭诚为您服务。
