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高低温会对产品有哪些不利影响? ic电子可靠性测试

日期:2022-08-02 17:45:57 浏览量:94 标签: IC产品 可靠性测试 高低温试验

高低温试验用于电工、电子产品、元器件及其材料在高低温环境下贮存、运输和使用时的适应性试验,电子产品是否能够适应恶劣环境。高低温实验是产品可靠性的必测项目,那么高低温会对产品有哪些不利影响?本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

高低温会对产品有哪些不利影响? ic电子可靠性测试

高低温对产品可靠性的影响

低温对产品的影响

橡胶等柔韧性材料的弹性降低,并产生破裂;

金属和塑料脆性增大,导致破裂或产生裂纹;

由于材料的收缩系数不同,在温变率较大时,会引起活动部件卡死或转动不灵;

润滑剂粘性增大或凝固,活动部件之间摩擦力增大,引起动作滞缓,甚至停止工作;

元器件电参数发生变化,影响产品的电性能;

结冰或结霜引起产品结构破坏或受潮等。

低温环境效应

使材料硬化及脆化。

不同材料的不同收缩特性而使零件卡死。

由于润滑剂增加黏性而失去润滑作用。

电性改变(如电阻,电容等) 。

变压器和机电组件功能改变。

冲击基座变硬。

爆炸物破裂,如铵硝酸。

使试件产生裂痕、脆化并改变耐冲击 强度及减低强度

玻璃产生静力疲劳。

使水凝结和冰冻。

减低人的灵巧性及使听力和视力退化。

改变燃烧速率。

高温对产品的影响

由于各种材料的膨胀系数不同,导致材料之间的粘结和迁移;

润滑剂流失或润滑性能降低,增加活动部件之间的磨损;

密封填料、垫圈、封口、轴承和旋转轴等的变形;

由于粘结引起机械失灵或完全失效;

元器件电参数发生变化,影响产品的电性能

变压器、机电组件过热;

易燃或易爆材料引起燃烧或爆炸;

密封件内部压力增高引起破裂;

有机材料老化、变色、起泡、破裂或产生裂纹;

绝缘材料的绝缘性能降低。

高温环境效应

不同材料的不同膨胀特性而使零件卡死。

润滑剂失去黏性,使润滑剂流失而导致接点失去润滑。

试件全体或部分改变尺寸。

由于包装、垫圈、密封、轴承和主轴变得歪斜、卡死和失效而引起机械或全部的失效。

垫圈永久变形(胶状) 。

气密功能退化。

电阻值改变。

电路稳定状况随温度梯度和材料的不同膨胀特性而改变。

变压器和机电组件过热。

改变继电器及以磁性与热起动组件之作用/不作用裕度。

缩短操作寿命时闲。

固体材料内部晶体结构产生分离。

密闭试件内部产生高压。

加速炸药和推进器燃烧。

炸药铸造外壳膨胀。

炸药溶解和渗出。

有机材料变质及破裂。

温度变化对产品的影响

元器件涂覆层脱落、灌封材料和密封化合物龟裂甚至破密封外壳开裂、填充料泄漏等,使得元器件电性能下降;

由不同材料构成的产品,温度变化时产品受热不均匀,导致产品变形、密封产品开裂、玻璃或玻璃器皿和光学器等破碎;

较大的温差,使得产品在低温时表面会产生凝露或结霜,在高温时蒸发或融化,如此反复作用的结果导致和加速产品的腐蚀。

温度变化环境效应

玻璃制品和光学装备破裂。

可动零件卡死或松动。

结构产生分离。

电性改变。

由于急速凝结水或结冰造成电子或机械失效。

以颗粒状或纹状产生破裂。

不同材料之不同收缩或膨胀特性。

组件变形或破裂。

表面涂料之龟裂。

密封舱之漏气。

以上是创芯检测小编整理的电子产品可靠性高低温试验相关内容,希望对您有所帮助。深圳创芯在线检测技术有限公司是国内知名的电子元器件专业检测机构,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上。检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验、元器件X-Ray检测以及编带等多种测试项目。

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