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失效分析常见检测方法是什么?元器件失效基本原因分析

日期:2021-09-24 12:00:56 浏览量:593 标签: 元器件失效 失效分析

失效机制是导致零件、元器件和材料失效的物理或化学过程。此过程的诱发因素有内部的和外部的。在研究失效机制时,通常先从外部诱发因素和失效表现形式入手,进而再研究较隐蔽的内在因素。这也是人们认识事物本质和发展规律的逆向思维和探索,是变失效为安全的基本环节和关键,是人们深化对客观事物的认识源头和途径。为帮助大家深入了解,本文将对元器件失效分析检测方法予以汇总。如果您对本文即将要涉及的内容感兴趣的话,那就继续往下阅读吧。

失效分析

失效分析分类

1.按功能分类

由失效的定义可知,失效的判据是看规定的功能是否丧失。因此,失效的分类可以按功能进行分类。例如,按不同材料的规定功能可以用各种材料缺陷(包括成分、性能、组织、表面完整性、品种、规格等方面)来划分材料失效的类型。

2.按材料损伤机理分类

根据机械失效过程中材料发生变化的物理、化学的本质机理不同和过程特征差异,

3.按机械失效的时间特征分类

(1)早期失效 可分为偶然早期失效和耗损期失效。

(2)突发失效 可分为渐进(渐变)失效和间歇失效。

4.按机械失效的后果分类

(1)部分失效

(2)完全失效

(3)轻度失效

(4)危险性(严重)失效

(5)灾难性(致命)失效

失效分析的分类一般按分析的目的不同可分为:

(1)狭义的失效分析:主要目的在于找出引起产品失效的直接原因。

(2)广义的失效分析:不仅要找出引起产品失效的直接原因,而且要找出技术管理方面的薄弱环节。

(3)新品研制阶段的失效分析:对失效的研制品进行失效分析。

(4)产品试用阶段的失效分析:对失效的试用品进行失效分析。

(5)定型产品使用阶段的失效分析:对失效的定型产品进行失效分析。

(6)修理品使用阶段的失效分析:对失效的修理品进行失效分析。

失效分析常见检测方法

1.无损检测(NDT)别名无损探伤

指在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织的前提下,利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化,以物理或化学方法为手段,借助现代化的技术和设备器材,对试件内部及表面的结构、性质、状态及缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法 。

无损检测方法:涡流检测(ECT)、射线照相检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测 (MT)和液体渗透检测(PT) 五种。其他无损检测方法:声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。

2.物理测试(Physical test) 对物质材料的分析,检验,从而确定物质的强度承受力是否符合标准。测试材料或结构承受力而不发生破坏的能力所进行的试验。材料强度试验测定材料屈服极限、强度极限或疲劳极限等指标。结构强度试验测定结构的极限承受力,它不仅同材料强度有关,而且同结构的几何形状、机构配件、外力作用形式有关,按试验加载方式为静强度试验、动强度试验和疲劳强度试验等。按环境温度可分为常温强度试验、热(高温)强度试验或冷(低温)强度试验等。试验设备包括静强度试验设备、动强度试验设备和疲劳强度试验设备等。

3.化学分析(chemical analysis )

利用物质的化学反应为基础的分析,称为化学分析。化学分析历史悠久,是分析化学的基础,又称为经典分析。化学分析是定量的,根据样品的量、反应产物的量或所消耗试剂的量及反应的化学计量关系,通过计算得待测组分的量。而另一重要的分析方法仪器分析是相对定量,根据标准工作曲线,估计出来。

失效分析常见检测方法是什么?元器件失效基本原因分析

分析失效基本原因

1. 失效和失效分析

产品丧失规定的功能称为失效。判断失效的模式,查找失效原因和机理,提出预防再失效的对策的技术活动和管理活动称为失效分析。

2. 失效和事故

失效与事故是紧密相关的两个范畴,事故强调的是后果,即造成的损失和危害,而失效强调的是机械产品本身的功能状态。失效和事故常常有一定的因果关系,但两者没有必然的联系。

3. 失效和可靠

失效是可靠的反义词。机电产品的可靠度R(t)是指时间t内还能满足规定功能产品的比率,即n(t)/n(0),n(t)为时间t内满足规定功能产品的数量,n(0)为产品试验总数量。累积失效概率F(t)就是时间t内的不可靠度,即F(t)=1-R(t)=[n(0)-n(t)]/n(0)。

4.失效件和废品

失效件是指进入商品流通领域后发生故障的零件,而废品则是指进入商品流通领域前发生质量问题的零件。废品分析采用的方法常与失效分析方法一致。

失效学

研究机电产品失效的诊断、预测和预防理论、技术和方法的交叉综合的分支学科。失效学与相关学科的边界还不够明确,它是一个发展中的新兴学科。

以上便是此次创芯检测带来的“失效分析检测方法及基本原因”相关内容,通过本文,希望能对大家有所帮助。如果您喜欢本文,不妨持续关注我们网站,我们将于后期带来更多精彩内容。如您有任何电子产品检验测试的相关需求,欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。

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