创新在线旗下网站: IC交易网 | 芯达通 | ICGOO在线商城 创芯检测

全国热线

4008-655-800
外观检查

外观检查报告:STM32F103RET6检测

日期:2021-08-18 18:00:29 浏览量:1496 作者:创芯在线检测中心

型号 :STM32F103RET6 

器件品牌 :ST 

批次代码 :2106 

器件封装 :LQFP64 

样品数量 :5 片 

检测数量 :5 片 

收样日期 :2021/08/14 

测试日期 :2021/08/14 14:10 - 2021/08/14 16:40

测试项目:

外观检查、丙酮测试

测试方法及测试设备

1.1 测试标准:

MIL-STD-883L-2019 2009.14 

1.2 光学显微镜

设备规格: 高倍显微镜 SEZ-260: X7-X45 

1.3 数显卡尺

设备规格: MASTERPROOF:标准数字显示卡尺0-150mm 

1.4 检测环境

环境温度: 25±5℃

环境相对湿度: 45%-65%RH 

1.5 检测依据

《ST STM32F103RET6 》:

https://www.st.com/content/ccc/resource/technical/document/datasheet/59/f6/fa/84/20/4e/4c/59/CD0019118 5.pdf/files/CD00191185.pdf/jcr:content/translations/en.CD00191185.pdf

外观测试: 

依据标准:MIL-STD-883L-2019 2009.14 

结论描述:

客户提供 5 片制造商为 ST 型号 STM32F103RET6 的测试品进行外观检测。详情如下: 外观检测样品 5 片(#1-#5),均发现侧面均有二次涂层痕迹,发现管脚重新镀锡且有氧化现象,对#1 样品进行丙酮测试,测试结果失败,对#1 样品进行尺寸测量,所测量参数均符合原厂规格书标称范 围。此样品外观检测结果失败。 

规格尺寸: 

D: 12.00 TYP MM

E: 12.00 TYP MM

A: 1.60 MAX MM

测量尺寸: 

D: 12.05 MM 

E:12.02 MM 

A: 1.49 MM

外观检测结果

1.芯片描述

STM32F103XC,STM32F103XD 和 STM32F103xe 绩效线系列采用高性能 ARM®Cortex®-M3 32 位 RISC 核心操作 72 MHz 频率,高速嵌入式存储器(闪存高达 512 千字节和 SRAM 高达 64 千字节), 以及广泛的增强型 I / O 和外围设备连接到两个 APB 总线。 

2.封装尺寸

封转尺寸

3.来料信息

来料信息

备注:收到客户提供的测试样品 5 片。

来料图片

4.外观测试: 

依据标准:MIL-STD-883L-2019 2009.14 

客户提供 5 片制造商为 ST 型号 STM32F103RET6 的测试品进行外观检测。详情如下: 外观检测样品 5 片(#1-#5),均发现侧面均有二次涂层痕迹,发现管脚重新镀锡且有氧化现象,对#1 样品进行丙酮测试,测试结果失败,对#1 样品进行尺寸测量,所测量参数均符合原厂规格书标称范围。

此样品外观检测结果失败。 

规格尺寸: 

D: 12.00 TYP MM 

E: 12.00 TYP MM 

A: 1.60 MAX MM 

测量尺寸: 

D: 12.05 MM 

E:12.02 MM 

A: 1.49 MM

外观测试

外观测试

外观测试

外观测试


其他检测案例