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集成电路 JW3510SOTA#TRPBF 失效分析报告

日期：2025-12-04 14:30:47 浏览量：301 作者：创芯在线检测中心

  综上测试分析，失效品因EOS导致内部结构烧毁而引起短路失效。

集成电路 JW3510SOTA#TRPBF 失效分析报告_已签章.pdf


 





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