服务项目
应用领域
案例标准
新闻动态
关于我们
注册
EN
IC产品相关资讯
高低温会对产品有哪些不利影响? ic电子可靠性测试
高低温会对产品有哪些不利影响? ic电子可靠性测试

高低温试验用于电工、电子产品、元器件及其材料在高低温环境下贮存、运输和使用时的适应性试验，电子产品是否能够适应恶劣环境。高低温实验是产品可靠性的必测项目，那么高低温会对产品有哪些不利影响?本文收集整理了一些资料，期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

2022-08-02 17:45:57
查看详情
Image
八月芯资讯汇总：涨价行情延续，但市场出现“杂音”

8月份，疫情在多个IC行业重要产地扩散，造成众多原厂停产，引起下游供应紧张。晶圆代工厂发起新一轮涨价，也在推升行情。与此同时，8月份市场传出多个“杂音”，或预示行情扭转，有必要将其纳入考量，调整对未来行情的预期。

2021-09-10 15:05:00
查看详情
热门文章
UV测试是什么？UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能？电气性能测试包括什么? 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少？ CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 芯片切片分析是什么？如何进行切片分析试验？ 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 芯片发热是不是芯片坏了？在多少温度下会损坏
热门标签
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

服务项目
应用领域
案例标准
新闻动态
关于创芯检测

友情链接：