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集成电路 NCV57101DWR2G 失效分析报告

日期：2024-11-04 16:34:16 浏览量：850 作者：创芯在线检测中心

综上分析推测失效品因EOS/ESD导致die内部金属层和绝缘层区域出现击穿烧毁痕迹，从而引起短路失效。

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