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芯片缺陷分析和失效分析区别

在芯片制造和使用过程中,芯片缺陷和失效是常见的问题。虽然芯片缺陷和失效都会影响芯片的性能和可靠性,但它们的原因和解决方法却有所不同。本文将围绕这一话题展开讨论,并介绍芯片缺陷分析和失效分析的区别。

2023-09-18 16:08:58
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常见的芯片可靠性测试有哪些?

可靠性测试对于芯片的制造和设计过程至关重要。通过进行全面而严格的可靠性测试,可以提前发现并解决潜在的设计缺陷、制造问题或环境敏感性,从而确保芯片在长期使用中的性能和可靠性。

2024-01-29 16:18:14
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高低温试验的测试条件和评估标准

高低温箱具有较宽的温度控制范围,其性能指标均达到国家标准GB/T10592高低温试验箱技术条件,适用于按GB/T2423.1、2《电工电子产品环境试验 试验A:低温试验方法,试验B:高温试验方法》对产品进行低温及高温试验。适用于电工电子产品(包括元件、设备及其它产品)的高低温度 。

2024-03-28 16:37:12
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为什么电子元器件要进行老化试验?

当今,随着科技的进步,电子制造技术也日益发达,集成化程度越来越高,工序越来越多,结构也越来越精细,制造工艺越来越复杂,错综复杂的因素必然会导致在制造过程中隐藏着缺陷,作为电子产品竞争厂家,不断地保证其性能的高精准性,也要保证其质量的稳定性。因此对它进行相关的检验也是必要的,那么为什么要做老化试验呢?

2021-08-10 14:29:38
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这些原厂涨价生效,请查收!—— 2021年12月行业资讯汇总

缺芯大潮不休不止,元旦前后又有几个原厂的涨价生效,这其中有的在去年第四季度公布,有的是刚刚公布。这批原厂涨价,刚好对应新一轮晶圆代工涨价,这次又是联电“戏最多”。除此以外,近期的存储市场也因疫情出现变数,但相比晶圆代工,影响较为有限。

2022-01-07 13:32:00
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