创芯检测 | 3月元器件异常物料检测拦截报告
日期：2024-04-15 11:44:00 浏览量：308 标签: 创芯检测
◆ 报告导读 ◆
为了使更多客户了解异常物料信息，创芯检测定期对外发布元器件品质异常分析检测报告，希望能够帮助您预警风险，安心购物，避免购买到不合格器件。
本次对外公布数据为2024年3月创芯检测实验室拦截高风险及高危物料。
综合分析
外观检测
功能检测
无损检测
开盖检测
失效分析
DPA检测
01外观检测
外观检测是指确认收到的芯片数量、内包装、湿度指示、干燥剂要求和外包装是否符合要求。单个芯片的外观检测主要包括：芯片的打字、年份、原产地、是否重新涂层、管脚的状态、是否有重新打磨痕迹、不明残留物、以及厂家logo的位置等。
02功能检测
功能检测是指在特定工作条件（即器件正常使用环境，通常为常温），器件正常工作的状态下，进行各种必要的逻辑或信号状态测试。此测试依据原厂规格书以及行业标准或规范，设计可行性测试向量或专用测试电路，对检测样片施加相应的信号源输入，通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等特定条件，分析信号的逻辑关系及输出波形的变化状态，检测电子元器件的功能特性。
芯片功能测试常用6种方法有：板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系统级SLT测试、可靠性测试，多策并举。
03无损检测
无损检测是指在检查IC内部时，不伤害其内部组织的前提下，以物理方法的手段，借助设备器材，对芯片内部及表面的结构、状态及缺陷的类型、数量、形状、性质、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法。
常用的无损检测方法有：外观检测、X-Ray检测、热传导测试、超声波检测、XRF检测等。
04开盖检测
开盖测试又称DECAP，属于破坏性实验，是使用化学试剂方法或者激光蚀刻将芯片外部的封装壳体去掉，用以检查内部晶粒表面的原厂标识、版图布局、工艺缺陷等，开盖测试是一种主要的真伪检测手段，能确定芯片的真实性、完整性。
Decap实验室可以处理几乎所有的IC封装形式（COB、QFP、DIP、SOT等）、打线类型（AuCuAg）。
05失效分析
通过专业失效分析设备，借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认最终的失效原因，并提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现。
创芯检测提供元器件到PCBA分析及改善方案，常用分析项目有：数码显微镜、X-Ray 检测、超声波扫描 (SAT检测)、I-V曲线测试、开盖检测、FIB（聚焦离子束）、Thermal EMMI(InSb)、砷化镓铟微光显微镜、激光束电阻异常侦测、芯片去层 (Delayer)、切片测试（Cross Section）、扫描式电子显微镜(SEM)/EDS等。
06DPA检测
破坏性物理分析（Destructive Physical Analysis）简称为DPA，是为了验证元器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途或有关规范的要求，按元器件的生产批次进行抽样，对元器件样品进行破坏性分析的一系列检验和分析的全过程、DPA分析不但适用于军用电子元器件，而且也同样适用于民用电子元器件，如采购检验、进货验货及生产过程中的质量监测等。
项目涉密不做具体展示
